部分放電現象の理解に基づく劣化診断技術の高度化
部分放電現象の理解に基づく劣化診断技術の高度化
基于对局部放电现象的理解，推进劣化诊断技术
批准号：
24K17271
负责人：
津屋 朋花
金额：
$3.0万
依托单位国家：
日本
项目类别：
Grant-in-Aid for Early-Career Scientists
财政年份：
2024
资助国家：
日本
项目状态：
未结题
起止时间：
2024-04-01 至 2027-03-31
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