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光学顕微鏡下で1Åの精度でマイクロビーズの微小変位を計測する装置の試作

光学顕微鏡下で1Åの精度でマイクロビーズの微小変位を計測する装置の試作
在光学显微镜下以 1 Å 精度测量微珠微小位移的装置原型制作
批准号：
62840022
负责人：
上村 慎治
金额：
$2.37万
依托单位：
The University of Tokyo
依托单位国家：
日本
项目类别：
Grant-in-Aid for Developmental Scientific Research
财政年份：
1987
资助国家：
日本
项目状态：
已结题
起止时间：
1987 至 --
来源：
https://kaken.nii.ac.jp/en/grant/KAKENHI-PROJECT-62840022/
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新配向技術によるベン毛軸糸X線構造解析
  • 批准号：
    20657014
  • 项目类别：
    Grant-in-Aid for Exploratory Research
  • 资助金额：
    $2.18万
  • 财政年份：
    2008
  • 负责人：
    上村 慎治
  • 依托单位：
    Chuo University
3次元ピコメートル計測法による軸糸ダイニン動態の解析
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  • 批准号：
    17049011
  • 项目类别：
    Grant-in-Aid for Scientific Research on Priority Areas
  • 资助金额：
    $3.58万
  • 财政年份：
    2005
  • 负责人：
    上村 慎治
  • 依托单位：
    The University of Tokyo
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  • 批准号：
    04740399
  • 项目类别：
    Grant-in-Aid for Encouragement of Young Scientists (A)
  • 资助金额：
    $0.64万
  • 财政年份：
    1992
  • 负责人：
    上村 慎治
  • 依托单位：
    The University of Tokyo