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走査型電子顕微鏡による表面粗さ計測に関する研究

走査型電子顕微鏡による表面粗さ計測に関する研究
扫描电子显微镜表面粗糙度测量研究
批准号：
X00120----485061
负责人：
佐藤 寿芳
金额：
$3.33万
依托单位：
The University of Tokyo
依托单位国家：
日本
项目类别：
Grant-in-Aid for Developmental Scientific Research
财政年份：
1979
资助国家：
日本
项目状态：
已结题
起止时间：
1979 至 1980
来源：
https://kaken.nii.ac.jp/en/grant/KAKENHI-PROJECT-X00120----485061/
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切削時自励振動の総合的特性解明に関する研究
  • 批准号：
    59350010
  • 项目类别：
    Grant-in-Aid for Co-operative Research (A)
  • 资助金额：
    $5.25万
  • 财政年份：
    1984
  • 负责人：
    佐藤 寿芳
  • 依托单位：
    The University of Tokyo
超音波による残留応力の三次元計測とその機械工作への応用に関する研究
  • 批准号：
    58420022
  • 项目类别：
    Grant-in-Aid for General Scientific Research (A)
  • 资助金额：
    $14.08万
  • 财政年份：
    1983
  • 负责人：
    佐藤 寿芳
  • 依托单位：
    The University of Tokyo
走査型電子顕微鏡(SEM)による2次元表面粗さ計測とその応用に関する研究
  • 批准号：
    56460074
  • 项目类别：
    Grant-in-Aid for General Scientific Research (B)
  • 资助金额：
    $5.95万
  • 财政年份：
    1981
  • 负责人：
    佐藤 寿芳
  • 依托单位：
    The University of Tokyo
工作機械の直進精度と加工精度の関連に関する研究
  • 批准号：
    X00080----446073
  • 项目类别：
    Grant-in-Aid for General Scientific Research (B)
  • 资助金额：
    $5.7万
  • 财政年份：
    1979
  • 负责人：
    佐藤 寿芳
  • 依托单位：
    The University of Tokyo