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フリーズ・エッチング法の基礎的研究(附属装置の開発を含む)とその応用

フリーズ・エッチング法の基礎的研究(附属装置の開発を含む)とその応用
冷冻蚀刻法基础研究（含辅助设备开发）及其应用
批准号：
X00120----787005
负责人：
山田 英智
金额：
$1.09万
依托单位：
The University of Tokyo
依托单位国家：
日本
项目类别：
Grant-in-Aid for Developmental Scientific Research
财政年份：
1972
资助国家：
日本
项目状态：
已结题
起止时间：
1972 至 1973
来源：
https://kaken.nii.ac.jp/en/grant/KAKENHI-PROJECT-X00120----787005/
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ヘリウム温度凍結割断装置の開発と応用
  • 批准号：
    59870003
  • 项目类别：
    Grant-in-Aid for Developmental Scientific Research
  • 资助金额：
    $2.62万
  • 财政年份：
    1984
  • 负责人：
    山田 英智
  • 依托单位：
    Fukuoka University
光生理現象の形態学的分析
ヘリウムII温度による急速凍結装置の開発
  • 批准号：
    57870002
  • 项目类别：
    Grant-in-Aid for Developmental Scientific Research
  • 资助金额：
    $2.24万
  • 财政年份：
    1982
  • 负责人：
    山田 英智
  • 依托单位：
    The University of Tokyo
光受容膜の微細構造
  • 批准号：
    56480078
  • 项目类别：
    Grant-in-Aid for General Scientific Research (B)
  • 资助金额：
    $4.03万
  • 财政年份：
    1981
  • 负责人：
    山田 英智
  • 依托单位：
    The University of Tokyo