ICP発光分光分析と蛍光X線分析の併用による硫化物薄膜の組成分析とNaの定量
ICP発光分光分析と蛍光X線分析の併用による硫化物薄膜の組成分析とNaの定量
使用 ICP 发射光谱和荧光 X 射线分析相结合进行硫化物薄膜的成分分析和 Na 定量
批准号：
23H05214
负责人：
細川 陽子
金额：
$0.31万
依托单位国家：
日本
项目类别：
Grant-in-Aid for Encouragement of Scientists
财政年份：
2023
资助国家：
日本
项目状态：
已结题
起止时间：
2023-04-01 至 2024-03-31
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