銅膜材の疲労特性および電気的特性に及ぼすミクロ組織と疲労損傷の影響
銅膜材の疲労特性および電気的特性に及ぼすミクロ組織と疲労損傷の影響
批准号:
11750079
负责人:
清水 憲一
金额:
$1.34万
依托单位:
依托单位国家:
日本
项目类别:
Grant-in-Aid for Encouragement of Young Scientists (A)
财政年份:
1999
资助国家:
日本
项目状态:
已结题
起止时间:
1999 至 2000
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1.大小二種類の結晶粒径を有する圧延鉄膜材の疲労試験を行った.その結果,結晶粒径の小さい膜材ではき裂は粒界を,大きい膜材では粒内を伝ぱしており,結晶粒径の大きい膜材では,負荷方向が圧延方向と平行な膜材の方が垂直な膜材よりもき裂伝ぱ速度が高速であり,両者のき裂伝ぱ形態にも顕著な相違が見られた.電子線後方散乱回折法を用いて結晶配向性を測定したところ,熱処理後も圧延による配向性が残っており,その配向性の特徴より,き裂が圧延方向と同一方向,あるいは直交方向に伝ぱする場合で,き裂周辺でのすべり変形挙動が異なることを明らかにした.2.膜厚100μmの冷間圧延銅膜材に対して,種々の温度で焼なましを行い,組織観察と結晶方位測定を同時に行って,冷間圧延された銅膜材の納入材では明瞭な圧延集合組織が存在するが,焼なましを行うとこれらの配向性はほとんど消滅することを示した.また,銅膜材では鉄膜材に比べてより低い温度で結晶粒が成長し,膜厚方向に結晶粒が一つしか存在せず,結晶粒の配置が二次元的になりやすい現象や,鉄膜材と比較すると焼なまし双晶が生じやすいことを示した.次にこれらの銅膜材の疲労試験を行い,銅膜材では,焼なまし双晶で生じたすべりをき裂が伝ぱするので,鉄膜材に比べてき裂が直線的に伝ぱすることを示した.また疲労試験後におけるき裂周辺の結晶方位解析の結果,き裂周辺では結晶粒が微細化している可能性が高いことがわかり,鉄膜材とは異なる種々の疲労特性が明らかになった.なお,これらのミクロ組織の相違および疲労に伴う銅膜材の電気抵抗変化に関しては,顕著な現象が現れなかったが,今後,測定法を改良して,より高精度の電気的特性の測定を行う予定である.
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Tashiyuki Torii: "A New Fatigue Testing Method and Fatigue Properties of Metal Film Materials"Proc. of International Workshop on Sensing and Evaluation of Materials System, ISRE 2000. 1-8 (2000)
Tashiyuki Torii:“一种新的疲劳测试方法和金属薄膜材料的疲劳性能”Proc。
DOI:
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发表时间:
期刊:
影响因子:
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作者:
[]
通讯作者:
鳥居 太始之: "銅膜材の疲労破壊特性に及ぼす圧延方向の影響"日本機械学会論文集(A編). 65巻631号. 461-468 (1999)
鸟居太一之:“轧制方向对铜膜材料疲劳断裂性能的影响”日本机械工程学会会刊(A版)第65卷,第631期。461-468(1999年)。
DOI:
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发表时间:
期刊:
影响因子:
--
作者:
[]
通讯作者:
清水憲一: "鉄膜材における疲労き裂伝ぱ特性と圧延組織の相関"日本機会学会論文集(A編). (採用決定).
Kenichi Shimizu:“钢膜材料中疲劳裂纹扩展特性与滚动结构的相关性”日本机械工程师学会会议记录(编辑A)(已接受)。
DOI:
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发表时间:
期刊:
影响因子:
--
作者:
[]
通讯作者:
Tashiyuki TORII: "A Method of Film Fatigue Testing and Effects of Rolling Direction on Fatigue Properties in Copper Film"Proceedings of the Advances in Electronic Packaging 1999(InterPACK'99). Vol. 26-1. 867-874 (1999)
Tashiyuki TORII:“薄膜疲劳测试方法以及轧制方向对铜薄膜疲劳性能的影响”1999 年电子封装进展论文集(InterPACK99)。
DOI:
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发表时间:
期刊:
影响因子:
--
作者:
[]
通讯作者:
高輝度放射光による短繊維GFRPのひずみ・結晶化度測定と疲労寿命評価手法の確立
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批准号:21K03778
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项目类别:Grant-in-Aid for Scientific Research (C)
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资助金额:$2.58万
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财政年份:2021
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负责人:清水 憲一
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依托单位:
EBSD法(電子線後方散乱回折法)を用いた銅膜材の疲労損傷評価法の確立
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批准号:14750067
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项目类别:Grant-in-Aid for Young Scientists (B)
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资助金额:$2.62万
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财政年份:2002
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负责人:清水 憲一
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依托单位:
海外基金