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累積多層膜中における微弱蛍光に対する外部電場効果の研究

外电场对累积多层膜弱荧光效应的研究

基本信息

批准号：
12740373
负责人：
西村賢宣
金额：
$ 1.34万
依托单位：
Hokkaido University
依托单位国家：
日本
项目类别：
Grant-in-Aid for Encouragement of Young Scientists (A)
财政年份：
2000
资助国家：
日本
起止时间：
2000 至 2001
项目状态：
已结题

来源：
https://kaken.nii.ac.jp/en/grant/KAKENHI-PROJECT-12740373/
关键词：
微弱蛍光 9,9^1 ジアンスリルポリインフェムト秒ダブルパルス蛍光干渉光電場効果位相ロック位相緩和 9,9' ビアントリル 9,9' ジアンスリルポリイン累積膜ポリマー外部電場効果表面プラズモン蛍光寿命測定

项目摘要

近年、高度に組織化された分子配列系の合成研究が進められているが、反応分子が接近して配列した分子系では反応の相互作用が大きく、凝縮系においても量子コヒーレンスが保たれた状態で起こり得る。コヒーレント光化学過程の動力学の研究は、これまでは単一パルス励起による蛍光異方性の測定によっていたが、今回われわれは、フェムト秒時間遅延をもつレーザーパルス対の照射によって生じる蛍光の量子干渉を計測し、さらに量子位相制御を可能にする装置を製作した。ジアンスリルアセチレンの蛍光干渉パターンはジチアアントラセノファンの場合と異なり、in-phaseとout-of-phaseの信号が正負で交差しないことから、この干渉信号は低波数のねじれ振動モードに由来すると考えられる。今回製作した蛍光干渉測定装置の特徴1)既に報告されている位相ロック型の量子干渉計は、ピエゾを用いて位相制御を行っているが、本装置は可動ステージのみで制御を達成した。2)ピエゾを使用していないため、位相ロックする遅延間隔を任意に設定することはできないが、少なくとも30fs位の間隔で測定する条件では問題はない。3)位相ロックすることによって、今までに知られていない励起緩和現象を見い出すための手段として非常に有用である。4)レーザーのコヒーレンスを最大限に利用した測定法であるため、その調整には十分な注意を払う必要がある。

In recent years, the synthesis of highly organized molecular alignment systems has been studied. The interaction between anti-molecular alignment systems and anti-molecular alignment systems has been greatly enhanced. The condensation system has been developed in the state of quantum chemistry. The study of kinetics of photochemical processes includes the preparation of a device for measuring the quantum interaction of light and quantum phase control in response to irradiation. In case of failure, the in-phase and out-of-phase signals are negative, the difference between them is negative, and the reason why the signal is low in wave number is vibration. This paper describes the characteristics of the optical interference measurement device. 1) The device is capable of controlling the phase of the optical interference measurement device. 2) Use of the term, phase, delay interval, arbitrary setting of the term, less than 30fs interval. 3)This is a very useful tool for understanding and mitigating phenomena. 4) The maximum utilization of the method of measurement is necessary for the adjustment of the system.