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設計者のための統合型VLSIテスト環境の開発

为设计人员开发集成的 VLSI 测试环境

基本信息

批准号：
12750330
负责人：
小林和淑
金额：
$ 1.41万
依托单位：
Kyoto University
依托单位国家：
日本
项目类别：
Grant-in-Aid for Encouragement of Young Scientists (A)
财政年份：
2000
资助国家：
日本
起止时间：
2000 至 2001
项目状态：
已结题

项目摘要

本年度の研究実績は下記の通りである.テストベンチ生成ツールSTの公開テストベンチ生成ツールSTをインターネット上で公開し,多くの利用者に利用してもらうことで,使用方法の改善,機能の追加等を行った.対象シミュレータ,テスタの追加これまでサポートしていた,SPICE, Verilog, EPICの各シミュレータ,HP83000のテスタに加えて,VHDLシミュレータ,HP82000テスタを追加した.VHDLは,Verilogと並ぶ2大ハードウェア記述言語として,有名でありこの二つをサポートしたことにより,ほぼすべてのディジタル回路シミュレーションに利用することが可能となった.試作LSIによる評価ここでは,評価回路の設計・試作を行い,その検証を本研究で作成したテストベンチ生成ツールを用いて測定を行った.試作した回路は,下記の通りである.・マニュアルプローバ測定用SRAMセル・動き推定用PEアレイ・EBテスタ測定用インバータチェインSRAMセルは,微細な0.13μmで試作を行い,HP82000テスタとマニュアルプローバ,オシロスコープを用いて測定を行った.動き推定用PEアレイは,HP83000を用いて測定を行った.インバータチェインはEBテスタとHP83000を用いて測定を行い,EBテスタによりインバータチェイン内部のインバータの遅延時間を測定した.いずれも,STを用いることにより設計者が簡単にLSIのテストを行えることが判明した.動き推定用のPEアレイは,200サイクルの比較的長いテストベクトルを動作確認に使用するが,シミュレーションの結果からテスタ用のテストベンチを得る従来手法と比べて,短時間に効率よくテストベンチを得ることができた.

In the course of this year's study, we will be able to communicate with each other. To make sure that the ST is open to the public and that the ST is open to the public, and that the multi-user is making use of it to improve the method, and to add additional information, etc. For example, please add the following information: SPICE, Verilog, EPIC, HP83000, VHDL, HP82000, and so on. VHDL, VHDL, Verilog and 2 major hardware are used to tell you that you are not aware of this. I don't know. I don't know what to do. This study is designed to verify the performance of the LSI device, the loop designer, and the circuit designer. Make the circuit, and then go through the circuit. This is the first time that the SRAM has been measured. The EB has been presumed to have been tested by the PE. The SRAM has been measured by the micrometer, which is 0.13 μ m by the micrometer. The HP82000 has been measured by the operator. The presumption of action is determined by PE, and the line is measured by HP83000. You need to use the EB to determine the performance of the HP83000, and the EB to determine the delay time of the internal operating system. This is true, and ST uses the LSI designer to determine the location of the error. The presumption of action is based on the long-term performance of the PE system. The long-term operation confirms the use of the device. The result of the test is that the performance is compared with the accuracy of the test, and the short-term response rate is effective.