低エネルギーイオンの分子との電荷移行衝突における解離過程の解明

阐明低能离子与分子之间电荷转移碰撞的解离过程

• 批准号: 07640540
• 负责人: 日下部 俊男
• 金额: $ 1.15万
• 依托单位: Kinki University
• 依托单位国家: 日本
• 项目类别: Grant-in-Aid for General Scientific Research (C)
• 财政年份: 1995
• 资助国家: 日本
• 起止时间: 1995 至 无数据
• 项目状态: 已结题
• 来源: https://kaken.nii.ac.jp/en/grant/KAKENHI-PROJECT-07640540/
• 关键词: 電荷移行反応; 核融合エッジプラズマ; 低エネルギーイオン-分子衝突; 解離過程; 位置検出器; 飛行時間法; 2次元同時測定法

H^+,O^+-C_2H_6,C_3H_8の各衝突系における電荷移行反応の全断面積がまだ測定されてなかったので,従来からの一個もMCP-PSDを用いた生長率法でまずこれらを測定した。なお入射イオンのエネルギー範囲は,H^+イオン衝突系に対しては0.2〜4.0keVで、またO^+イオン衝突系に対しては0.2〜4.5keVでそれぞれ測定が行なわれた。その結果、H^+イオン衝突系の断面積値は,入射エネルギーの増加と共に緩やかに減少していく傾向が認められた。またO^+イオン衝突系の断面積値は約1keVまでは入射エネルギーの増加と共に緩やかに減少し、約1keV以上の領域ではほぼ一定となる傾向が認められた。過去に測定された標的CH_4分子に対する断面積値の入射エネルギー依存性と、それぞれの衝突系で大変類似している。このことは、これらの衝突系は何れも発熱反応であり、CH_4分子も含め,反射前後のポテンシャルエネルギー曲線の構造が類似していることで定性的に説明できる。更に01son-Demkov理論に基ずく計算結果との比較から、O^+イオン衝突系では基底状態よりも第一励起状態への電子捕獲が支配的であり,またH^+及びO^+イオン衝突系共に反応後の二次分子イオンの振動励起過程が重要であると示唆された。代表者らが開発してきた2パラメータの波高分析システム(2D-MCA)と二次イオン引き出し装置(TOF型)を使用し,入射イオンと標的の二次イオンの同時測定を行った。しかしTOFスペクトルの時間分解が十分でなく、コンスタントフラクションディスクリを用いたが、改善されなかった。この結果2D-MCAシステムなどに問題があるのではなく、圧力のやや高いガス衝突室内で二次イオンを検出することに問題があると考え,キャピラリープレートを用いたノズルビーム方式の引き出し装置に変更した。設計製作は終了したので、新しい装置で再度同時測定を行い,標的分子の解離過程の解明を続けていく予定である。

Measurement of the total cross-sectional area of each conflict system of H^+,O^+-C_2H_6,C_3H_8 and charge transfer reaction The MCP-PSD was determined using the MCP-PSD growth rate method and was measured using the growth rate method.なおincident イオンのエネルギーfan囲は,H^+イオンconflict system に対しては0.2~4.0keVで、またO^+イオンconflict system に対しては0.2~4.5keVでそれぞれmeasurementが行なわれた.その result, H^+イオンconflict system のsectional area つは, incident エネルギーのincrease and increase the total にslow やかにreduce the していく tendency がcognize められた.またO^+イオンConflict system sectional area value is about 1keVまでは incident エネルギーのincreased total It is slow to reduce, and the area of about 1keV and above is certain and the tendency is to recognize it. In the past, the CH_4 molecule cross-sectional area value of the CH_4 molecule of the standard was measured, and the incident dependence and conflict system were similar to that of the CH_4 molecule.このことは, これらのconflict system はれも発heat reaction であり, CH_4 molecule もcontaining め, before reflection The structure of the post-のポテンシャルエネルギーcurve is similar to the していることでqualitative explanationできる. Updated 01son-Demkov theory calculation results and comparison, O^+ conflict system, base state, first excited state, and electrons It is important to capture the secondary molecular であり, またH^+ and びO^+ びO^+ イオン conflict system and react with each other to activate the vibration. The representative is らが开発してきた2パラメータの波高analyticsシステム(2D-MCA)と二イオンThe introduction and extraction device (TOF type) is used to simultaneously measure the secondary pressure of the incident target. TOF TOF time breakdownントフラクションディスクリを Use いたが, improve されなかった.このRESULTS2D-MCAシステムなどにquestionがあるのではなく、姧力のやや高いガスconflict indoorで二イオンを検出することにquestionがあると考え,キャピラリープレートをUse the いたノズルビーム method to introduce the device and に変change the した. The design and production has been completed, and the new device has been measured again simultaneously, and the dissociation process of the target molecule has been elucidated and the determination has been made.

项目成果

日下部 俊男: "Electron Capture by C^+ Ions in Collisions with Some Hydrocarbon Molecules in keV Energy Region" XIX ICPEAC Abstracts of Contributed Papers. 411-411 (1995)

Toshio Kusakabe：“Electron Capture by C^+ Ions in Collisions with Some Hydrocarbon Molecules in keV Energy Region” XIX ICPEAC 摘要 411-411 (1995)。

日下部 俊男: "Electron Capture by H^+ Ions in Collisions with H_2 Molecules in the Energy Range of 0.2〜4.0 keV" Atomic Collision Research in Japan. 21. 21-22 (1995)

Toshio Kusakabe：“0.2-4.0 keV 能量范围内 H_2 分子碰撞中 H^+ 离子的电子捕获”日本原子碰撞研究 21. 21-22 (1995)。

日下部 俊男: "Electron Capture by H^+ Ions in Collisions with CO, C0_2 and CH_4 Molecules in the Energy Range of 0.2〜4.0 keV" Atomic Collision Research in Japan. 21. 23-24 (1995)

Toshio Kusakabe：“0.2-4.0 keV 能量范围内与 CO、C0_2 和 CH_4 分子碰撞时 H^+ 离子的电子捕获”日本原子碰撞研究 21. 23-24 (1995)。