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Atomic scale visualization of the active sites of oxide catalysis

氧化物催化活性位点的原子尺度可视化

基本信息

批准号：
22H02024
负责人：
若林裕助
金额：
$ 11.23万
依托单位：
Tohoku University
依托单位国家：
日本
项目类别：
Grant-in-Aid for Scientific Research (B)
财政年份：
2022
资助国家：
日本
起止时间：
2022-04-01 至 2026-03-31
项目状态：
未结题

来源：
https://kaken.nii.ac.jp/en/grant/KAKENHI-PROJECT-22H02024/
关键词：
酸化物触媒界面構造放射光酸化物薄膜

项目摘要

酸素発生触媒として高い活性が報告されている2種の酸化物，(La,Sr)CoO3とRuO2の薄膜に対する物性評価と放射光による実験を行った。RuO2に関しては，従来報告の少ない(100)表面が出た薄膜に対する計測を試みた。しかし，この試料は表面X線回折を行うには表面の平滑度が不足しており，実質的に検出可能な信号強度が得られなかった。一方(La,Sr)CoO3薄膜については，(1)物性評価の結果として，電気化学的な活性を持つ試料の厚さの条件を明らかにし，(2)表面X線回折実験の結果として，固液界面で表面X線回折信号が得られる実験条件を見出した。一方で，想定を超えて厚い試料でないと電気化学的な活性が得られないこともわかったため，過去にない解析法が要求されることもわかった。そこで，まずは(La,Sr)CoO3の厚膜に対する平均構造解析が必要であり，それをもとに膜の表面構造を解析で求める方針に転換した。厚い膜の構造解析は，高エネルギー加速器研究機構の放射光実験施設（PF）の四軸回折計を用いた測定で実施できることを，Ni酸化物薄膜に対して今年度確認した。ただしこの手法では想定していない構造的な特徴を見落とす可能性があるため，PF BL-8Bに新たに整備された大型二次元検出器を備えた回折計で薄膜の計測ができるよう，ソフトウェア的な対応を進めている。現在，計測して得た強度分布を逆空間で可視化するところまでできており，強度の計測を従来法と同様にできるかどうか，Ni酸化物の標準試料を測定することで確認を進めている段階である。

Acid raw catalyst, high activity report, acid compound, (La,Sr) CoO3, RuO2, thin film, physical properties, radiation, radiation. RuO2 is required to report that there is a thin film on the surface of the device. The X line of the surface is folded back, the smoothness of the surface is not enough, and the signal strength of the surface is not enough. One side (La,Sr) CoO3 thin film is characterized by X-ray diffraction, (1) physical property test results, electrochemical properties test conditions, (2) surface X-ray back-folding test results, and solid-liquid interface X-ray back-folding signals. On the one hand, if you want to determine the activity of ultra-thick materials and electrical chemistry, you have to use the analytical method to determine the activity of electrochemistry. La,Sr, CoO3, thick film, surface, film, film surface, surface Thick film production analysis, high-performance accelerator research institute radiation equipment (PF) four-month back to use the instrument to determine the performance of the device, Ni acidified thin film is approved for this year. In order to improve the performance of the device, the new equipment of the PF BL-8B system is designed to improve the performance of the large-scale two-dimensional device, and to improve the performance of the thin film. At present, the calculation of the strength distribution makes it possible to determine the strength distribution. The strength distribution is the same as that of the Ni acidizing standard.