微細加工磁性膜と磁性多層膜界面のナノ構造

微加工磁性薄膜与磁性多层薄膜界面的纳米结构

• 批准号: 09236207
• 负责人: 橋爪 弘雄
• 金额: $ 1.28万
• 依托单位: Tokyo Institute of Technology
• 依托单位国家: 日本
• 项目类别: Grant-in-Aid for Scientific Research on Priority Areas
• 财政年份: 1997
• 资助国家: 日本
• 起止时间: 1997 至 无数据
• 项目状态: 已结题
• 来源: https://kaken.nii.ac.jp/en/grant/KAKENHI-PROJECT-09236207/
• 关键词: X線共鳴磁気散乱; 円偏光; 放射光X線; 磁性多層膜; 磁化分布プロフィル

(1)X線円偏光制御装置の作成直線偏光放射光X線を円偏光に変換し、ヘリシティを短時間に切換える偏光制御装置を作成した。偏光の変換は、入射X線の偏光面に45°傾けて置いたダイアモンド単結晶で行なう。種々の結晶方位について変換効率(円偏光度)とビーム強度を検討した結果、(001)結晶の(111)反射面が良いことが分かった。入手した厚さ0.3mmの人工結晶の完全性をX線回折顕微法で確かめた。機械部分は、45°傾斜台、2軸ゴニオメータ、結晶角度微調整機構、スリット、X線検出器台で構成されている。微調整機構はピエゾ素子を用い、計算機コマンドを受けて、ダイモンドの角度位置をブラッグ条件の近傍で1 mrad以下の微小角素速く回転させる。これにより円偏光X線のヘリシティを切換える。(2)Gd/Fe多層膜の磁気構造解析真空蒸着法で作成した多層膜[Fe(35Å)/Gd(50Å)]_<15>の磁気構造を共鳴X線磁気散乱法で解析した。Gdの磁気モーメントが試料面内方向の外部磁場に整列したaligned stateと、磁場方向からて回転したtwisted stateの双方で、Gd膜は厚さ方向に不均一に磁化していること、捩れ角は温度に依存することが分かった。すなわち、Gd膜の磁化はFe膜との界面附近で大きく、膜厚の中央で小さい。薄膜の膜厚方向の磁化プロフィルを決定したのは本研究が最初である。補償温度(170K)よりかなり低い140Kでは、捩れ角はGd膜の中央附近では磁場と垂直法を向いている。

(1)X A polarization control device for linearly polarized radiation X-rays is manufactured. The change in polarization occurs when the polarizing plane of incident X-rays is placed at a 45-degree angle in a single crystal. The crystal orientation of the seed is changed from the conversion rate (polarization) to the intensity of the seed. The result is that the (001) crystal and the (111) reflection surface are changed from good to bad. Starting with a thickness of 0.3 mm, the completeness of artificial crystallization was confirmed by X-ray microanalysis. Mechanical part, 45° tilt table, 2-axis tilt table, crystal angle fine adjustment mechanism, start-up, X-ray detector table The micro-adjustment mechanism is used for adjusting the angle of the element, the computer controls the angle of the element, and the angle of the element is adjusted to a small angle speed of less than 1 mrad. This is the case with polarized X-rays. (2)Gd Magnetic Structure Analysis of Fe/Gd Multilayer Films Prepared by Vacuum Evaporation Method Magnetic Structure Analysis of Fe(35)/Gd(50) Multilayer Films <15>by Resonance X-ray Magnetic Scattering Method Gd film magnetization is not uniform due to the external magnetic field aligned in the sample plane direction, the magnetic field direction is not uniform due to the magnetization direction of the Gd film thickness, and the angle is temperature dependent. The magnetization of Gd film is larger near the interface of Fe film, and the center of film thickness is smaller. The magnetization direction of thin film thickness is determined initially in this study. Compensation temperature (170K)

项目成果

H.HASHIZUME: "Resonant X-ray magnetic scattering from the Twisted state of an Fe/Gd" Physica B. (印刷中).

H.HASHIZUME：“来自 Fe/Gd 扭曲状态的共振 X 射线磁散射”Physica B.（出版中）。

D.R.LEE: "Resonant X-ray reflectivity measured from a magnetic maltilager" Physica B. (印刷中).

D.R.LEE：“从磁性 maltilager 测量的共振 X 射线反射率”Physica B.（正在出版）。