A study on the history of social management system for techrlology risks

技术风险社会管理体系的历史研究

• 批准号: 17074002
• 负责人: MIKAMI Yoshiki
• 金额: $ 14.34万
• 依托单位: Nagaoka University of Technology
• 依托单位国家: 日本
• 项目类别: Grant-in-Aid for Scientific Research on Priority Areas
• 财政年份: 2005
• 资助国家: 日本
• 起止时间: 2005 至 2009
• 项目状态: 已结题
• 来源: https://kaken.nii.ac.jp/en/grant/KAKENHI-PROJECT-17074002/
• 关键词: 安全規格; システム安全; 技術者協会; リスク評価分析; 保険事業; 第三者検査; XML; 人物伝; 技術リスク; ボイラー安全; 情報セキュリティ; 技術者倫理; 工学会

This study aims; to describe historical development process of social management systems of technology risk through international comparison between Japan and selected Western countries; to draw commonalities and differences; and to describe dynamic mutual interactions between regulatory environment and innovation. The form of regulations varies depending on socio-economic system of the country. The form of regulations in Japan after the Meiji Restoration was extremely dependent on government control. In this study author classifies safety regulations into four categories, sanctions and liability compensation laws, government regulations, self-regulatory system of insurance and third party inspection, market mechanism. These framework of analysis gives us an insight about how we should learn lessons and how we should design social environment for safety regulations in future.

本研究旨在；通过日本与选定的西方国家的国际比较，描述技术风险社会管理制度的历史发展过程；找出共同点和不同点；并描述监管环境与创新之间动态的相互作用。法规的形式因国家的社会经济制度而异。明治维新后日本的管制形式极度依赖政府控制。本文将安全法规分为四类：制裁与责任赔偿法、政府法规、保险与第三方检查自律制度、市场机制。这些分析框架为我们提供了如何吸取教训以及如何设计未来安全法规的社会环境的见解。

项目成果

日本の技術革新

日本技术创新

• 发表时间: 2008
• 作者: 清水慶一;三上喜貴;野城智也
• 通讯作者: 野城智也

特許マップを活用した特許情報解析教育

使用专利地图的专利信息分析教育

• 发表时间: 2009
• 作者: 三上喜貴;鈴木優;中平勝子
• 通讯作者: 中平勝子

歴史事象記述の枠組みを用いた歴史教材入力支援ツールの実装

基于历史事件描述框架的历史教材输入支持工具的实现

• 发表时间: 2008
• 作者: 安孫子一敏;中平勝子;三上喜貴
• 通讯作者: 三上喜貴

XMLによる歴史の知識基盤表現

使用 XML 表示历史知识库

• 发表时间: 2007
• 作者: 松井正志;中平勝子;三上喜貴
• 通讯作者: 三上喜貴

情報システムの発展とシステム監査の乖離リスク

信息系统开发和系统审计之间存在分歧的风险

• 发表时间: 2006
• 期刊: 特定領域研究「日本の技術革新-経験蓄積と知識基盤化-」第2回国際シンポジウム研究論文集
• 作者: Y. Nishiyama;M. Terazima;Y. Kimura;Z. Wei;H.Sagayama et al.;渡辺研司他
• 通讯作者: 渡辺研司他