ILC用バーテックス検出器のための全空乏型高精細画素CCDの放射線耐性の研究

ILC顶点探测器全耗尽型高清像素CCD的耐辐射性能研究

• 批准号: 18034007
• 负责人: 杉本 康博
• 金额: $ 3.65万
• 依托单位: High Energy Accelerator Research Organization
• 依托单位国家: 日本
• 项目类别: Grant-in-Aid for Scientific Research on Priority Areas
• 财政年份: 2006
• 资助国家: 日本
• 起止时间: 2006 至 2007
• 项目状态: 已结题
• 来源: https://kaken.nii.ac.jp/en/grant/KAKENHI-PROJECT-18034007/
• 关键词: 素粒子実験; 放射線・X線・粒子線; CCD; 放射線耐性; リニアコライダー; バーテックス検出器

全空乏型高精細画素CCDは国際リニアコライダー(ILC)における素粒子実験のための測定器システムを構成する検出器要素の一つであるバーテックス検出器のためのセンサーとして有望な候補の一つである。バーテックス検出器はビーム近傍に置かれるため、その放射線耐性は重要であるため、本研究では全空乏型高精細画素CCDの放射線耐性の研究を行った。標準的なCCDに関しては我々は既にILCでの使用において十分高い放射線耐性を持つことを明らかにしたが、全空乏型高精細画素CCDの放射線耐性には、標準的なCCDと比較して、全空乏化に起因する違い、および高精細化に起因する違いがある可能性がある。特に高精細化することによって、信号電荷が転送されるチャンネルと呼ばれる領域のサイズが小さくなり、放射線損傷によって生成されるトラップに信号電荷が出会う割合が減るため、放射線耐性が向上することが期待される。平成19年度においては高精細化に起因する違いを研究するため、(1)標準的なCCDに比べて画素の面積が1/4の全空乏型高精細画素CCDの開発、および(2)その全空乏型高精細画素CCDを読み出すための電子回路の製作を行った。新たに開発された全空乏型高精細画素CCDは読出し速度、暗電流、S/N比、消費電力等の点において要求性能を満たすものであった。放射線耐性に関しては、開発が年度末近くにずれ込んでしまったために、まだデータ収集中であるが、近日中にデータ収集を完了させ、データの解析を行い、結果が得られる見込みである。

All empty high resolution pixel CCD International Laser Control (ILC) is composed of detector elements of pixel particles and detector elements. The radiation tolerance of the detector is very important. In this study, the radiation tolerance of the fully depleted high-resolution pixel CCD is studied. The standard CCD is related to the use of ILCs with very high radiation tolerance. The radiation tolerance of fully depleted high resolution CCD is related to the standard CCD. The cause of depletion is related to the possibility of violation. In particular, high refinement, signal charge generation, radiation damage generation, signal charge generation, radiation tolerance, and expectation. In 2019, we studied the causes of high-definition CCD.(1) The development of standard CCD with pixel area of 1/4 and the manufacture of electronic circuit for standard CCD with pixel area of 1/4.(2) The development of standard CCD with pixel area of 1/4 and the manufacture of electronic circuit for standard CCD with pixel area of 1/4 and the manufacture of electronic circuit for standard CCD with pixel area of 1/4. The new fully depleted high-resolution pixel CCD has been developed to meet the requirements of output speed, dark current, S/N ratio, power consumption, etc. Radiation tolerance is related to, open to, close to the end of the year, close to, close to