权益分类	功能权益	普通用户	{{item.name}}会员
{{category.name}}	{{benefitItem.name}}

金属カットワイヤー配列によるテラヘルツ電場増強と高調波発生

使用金属切割线布置的太赫兹电场增强和谐波产生

基本信息

批准号：
20043019
负责人：
萩行正憲
金额：
$ 1.41万
依托单位：
Osaka University
依托单位国家：
日本
项目类别：
Grant-in-Aid for Scientific Research on Priority Areas
财政年份：
2008
资助国家：
日本
起止时间：
2008 至无数据
项目状态：
已结题

项目摘要

テラヘルツ帯においても、可視域同様表面プラズモンポラリトンやそれに伴う電場の局在は様々な現象を引き起こす。本研究では、2次元の金属カットワイヤー配列に着目し、精度の高い試料を作製し、テラヘルツ時間領域分光測定による評価を行い、透過スペクトルと電場集中の詳細を明らかにするとともに、電場増強に伴う2次高調波の発生実験を行うことが研究内容である。まず、2次元のワイヤー配列、並びに、ワイヤーに切れ目を導入した試料(カットワイヤー配列)を市販のプリンタとメタルカラーインクを用いて作製し、テラヘルツ透過特性を測定した。得られた振幅透過率と位相スペクトルから有効複素誘電率と有効複素電気伝導度を導出した結果、ワイヤー配列はドルーデモデルに従う金属的な振る舞いを示すのに対し、カットワイヤー配列は低周波数で絶縁体的な振る舞いを示すことがわかった。FDTD法を用いて電場強度のシミュレーションを行った結果、低周波数ではテラヘルツ波は切れ目の部分を主として透過し、その結果として局所的な電場増強が起こっていることが判明した。次に、より高精度の試料を作製するためスーパーインクジェットプリンタを用いて、半導体(Si、GaAs)基板上にシングルミクロンオーダーの金属ワイヤー配列の作製を試みた。その結果、印加電圧、描画速度、ベーキング温度を最適化することにより、数ミクロンの精度で試料が作製可能であることがわかり、この手法で2次高調波発生実験用の試料作製を得ることができた。

The phenomenon of local reflection due to electric field is introduced. In this study, the concentration of two-dimensional metal particles was investigated, and the sample preparation with high accuracy was evaluated. 2-D configuration, alignment, and measurement of transmission characteristics of the sample The amplitude transmittance, phase ratio, complex inductance, complex conductivity, and phase ratio are derived. The results show that the vibration of the metal is low in frequency and low in frequency. The FDTD method is used to determine the electric field intensity of the low frequency wave. Second, the preparation of high-precision samples, semiconductor (Si, GaAs) substrates, metal matrix preparation. Results, voltage, drawing speed, temperature, optimization, accuracy of sample preparation, method of sample preparation for secondary high frequency generation