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Development of a structural analysis method based on precise lattice distortion measurements using scanning transmission electron microscopy

Development of a structural analysis method based on precise lattice distortion measurements using scanning transmission electron microscopy
开发基于使用扫描透射电子显微镜进行精确晶格畸变测量的结构分析方法
批准号:
17K14119
负责人:
Shunsuke Kobayashi
金额:
$2.83万
依托单位:
依托单位国家:
日本
项目类别:
Grant-in-Aid for Young Scientists (B)
财政年份:
2017
资助国家:
日本
项目状态:
已结题
起止时间:
2017-04-01 至 2020-03-31

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