Development of operando X-ray Compton scattering microspectroscopy technique with high-spacial resolution.

今年度は、昨年度作製した符号化開口を用いてコンプトン散乱イメージングを行った。試料は、散乱体として点光源を仮定するため銅の丸棒をペンシル状に加工したものを使用した。試料の先端は直径0.1mmの円形である。実験はSPring-8で行った。入射X線は100keVの単色X線を使用し、ペンシル状試料の先端のみにX線を照射した。測定の結果、符号化開口のパターンに対応した散乱X線のパターンを観測した。また、得られた散乱パターンに逐次近似法を用いて再構成した結果、点光源を示す再構成画像を測定することができた。さらに、複雑な構造を持つ試料として1mm角の銅の立方体の表面に大学のロゴマークを加工したもののコンプトン散乱イメージングを行い、概ね散乱X線パターンから大学のロゴを再構成することができた。しかし、ピンホールで測定した画像に比べると符号化開口から得られる再構成画像はシグナル・ノイズ比が悪いことがわかった。この原因として、今回使用した符号化開口の厚みが不足しており、開口以外を透過するX線があることが示唆される。また、今年度は、本研究経費にて海外共同研究者を招聘し、セミナーを開催するとともに研究打合せを行い、研究者らの交流を促進するとともに研究の進展に努めた。

今年度は、昨年度作製した符号化開口を用いてコンプトン散乱イメージングを行った。試料は、散乱体として点光源を仮定するため銅の丸棒をペンシル状に加工したものを使用した。試料の先端は直径0.1mmの円形である。実験はSPring-8で行った。入射X線は100keVの単色X線を使用し、ペンシル状試料の先端のみにX線を照射した。測定の結果、符号化開口のパターンに対応した散乱X線のパターンを観測した。また、得られた散乱パターンに逐次近似法を用いて再構成した結果、点光源を示す再構成画像を測定することができた。さらに、複雑な構造を持つ試料として1mm角の銅の立方体の表面に大学のロゴマークを加工したもののコンプトン散乱イメージングを行い、概ね散乱X線パターンから大学のロゴを再構成することができた。しかし、ピンホールで測定した画像に比べると符号化開口から得られる再構成画像はシグナル・ノイズ比が悪いことがわかった。この原因として、今回使用した符号化開口の厚みが不足しており、開口以外を透過するX線があることが示唆される。また、今年度は、本研究経費にて海外共同研究者を招聘し、セミナーを開催するとともに研究打合せを行い、研究者らの交流を促進するとともに研究の進展に努めた。