電界イオン顕(FJM)微鏡法による金属触媒の表面状態の研究
電界イオン顕(FJM)微鏡法による金属触媒の表面状態の研究
批准号:
X44080-----38601
负责人:
東 克彦
金额:
$0.75万
依托单位:
依托单位国家:
日本
项目类别:
Grant-in-Aid for General Scientific Research (B)
财政年份:
1969
资助国家:
日本
项目状态:
已结题
起止时间:
1969 至 1970
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会议论文
電界イオン顕微鏡(FIM)法による金属触媒の表面状態の研究
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批准号:X43080------8601
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项目类别:Grant-in-Aid for General Scientific Research (B)
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资助金额:$2.68万
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财政年份:1968
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负责人:東 克彦
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依托单位: