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低温表面加工による Si 単結晶の表面格子欠陥の生成機構に関する研究

低温表面加工による Si 単結晶の表面格子欠陥の生成機構に関する研究
低温表面处理硅单晶表面晶格缺陷形成机制研究
批准号:
X00210----775039
负责人:
川上 隆司
金额:
$0.15万
依托单位:
依托单位国家:
日本
项目类别:
Grant-in-Aid for Encouragement of Young Scientists (A)
财政年份:
1972
资助国家:
日本
项目状态:
已结题
起止时间:
1972 至 --
关键词:

项目摘要

项目成果

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