Oberflächenverstärkte Ramanspektroskopie (SERS) von Phononen und Adsorbaten an vizinalen Kupferoberflächen

邻位铜表面上的声子和吸附物的表面增强拉曼光谱 (SERS)

• 批准号: 5155214
• 负责人: Professor Dr. Andreas Otto (†)
• 金额: --
• 依托单位国家: 德国
• 项目类别: Research Grants
• 财政年份: 1999
• 资助国家: 德国
• 起止时间: 1998-12-31 至 2001-12-31
• 项目状态: 已结题
• 来源: https://gepris.dfg.de/gepris/projekt/5155214?language=en
• 关键词: Oberfl; chenverst; rkte; Ramanspektroskopie; SERS

Mit lichtstarken CCD-Kameras, Polychromatoren und der Konfiguration der verhinderten Totalreflexion kann die sogenannte oberflächenverstärkte Ramanstreuung auch an einkristallinen Metalloberflächen eingesetzt werden, z.B. an der fest-flüssig Grenzfläche. Sie kann die "Drucklücke" überwinden bei der Erforschung der Prozesse an den metallischen Clustern auf Modellkatalysatoren, und ergänzt die IR-Spektroskopie, die auch Adsorbate auf dem oxidischen Träger detektiert. Durch Kombination von Struktur- und elektronischer Analyse soll der elektronische SERS-Mechanismus aufgeklärt werden. Die neu entdeckte "Unterschwellen-Photoemission" soll simultan durchgeführt werden, da sie auch Hinweise über die für den elektronischen SERS-Prozeß nötige Streuung an der Oberflächenrauhigkeit liefert. Die zu erwartenden Erkenntnisse werden beim Einsatz der SERS bei realkatalytischen Vorgängen nützlich sein, z.B. bei unseren Untersuchungen zur Methanolsynthese auf geträgertem Kupfer unter Druck.

通过CCD摄像机、多色照相机和全反射光的配置，可以获得拉曼散射光，也可以获得一种金属反射光韦尔登，z.B.在狂欢节上。您可以将“Drucklücke”置于过程研究中，然后将金属片置于模型分析中，并将IR光谱仪、吸附剂置于氧化物转移器中进行检测。结构和电子分析的组合解决了韦尔登拉曼光谱的机理。新的“Unterschwellen-Photoemission”功能可以在韦尔登发射时同时实现，这也是一种新的用于电子SERS探测的方法。在实际催化剂Vorgängen nützlich的表面增强拉曼光谱中，韦尔登效应是一种有效的测量方法。在Druck下进行甲醇合成的研究。