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多層膜MIS記憶デバイスの特性向上に関する研究

多層膜MIS記憶デバイスの特性向上に関する研究
改善多层MIS存储器件特性的研究
批准号：
X00090----255114
负责人：
安達 芳夫
金额：
$1.28万
依托单位：
The University of Tokyo
依托单位国家：
日本
项目类别：
Grant-in-Aid for General Scientific Research (C)
财政年份：
1977
资助国家：
日本
项目状态：
已结题
起止时间：
1977 至 --
来源：
https://kaken.nii.ac.jp/grant/KAKENHI-PROJECT-X00090----255114/
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光学的手法を用いた化合物半導体基板の評価とその特性改善に関する基礎的研究
  • 批准号：
    57460111
  • 项目类别：
    Grant-in-Aid for General Scientific Research (B)
  • 资助金额：
    $5.25万
  • 财政年份：
    1982
  • 负责人：
    安達 芳夫
  • 依托单位：
    The University of Tokyo
DLTSによる超LSI表面の微細欠陥構造とホットキャリアに関する研究
  • 批准号：
    X00080----546102
  • 项目类别：
    Grant-in-Aid for General Scientific Research (B)
  • 资助金额：
    $6.02万
  • 财政年份：
    1980
  • 负责人：
    安達 芳夫
  • 依托单位：
    The University of Tokyo
波長可変遠赤外像撮影デバイスの研究
  • 批准号：
    X00080----346105
  • 项目类别：
    Grant-in-Aid for General Scientific Research (B)
  • 资助金额：
    $6.14万
  • 财政年份：
    1978
  • 负责人：
    安達 芳夫
  • 依托单位：
    The University of Tokyo
極低温におけるMIS構造の界面に関する研究
  • 批准号：
    X00090----955082
  • 项目类别：
    Grant-in-Aid for General Scientific Research (C)
  • 资助金额：
    $1.5万
  • 财政年份：
    1974
  • 负责人：
    安達 芳夫
  • 依托单位：
    The University of Tokyo