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二段階光電離過程における電離断面積の測定

二段階光電離過程における電離断面積の測定
两步光电离过程中电离截面的测量
批准号：
X00040----421408
负责人：
田久保 嘉隆
金额：
$0.64万
依托单位：
Tokyo University of Agriculture and Technology
依托单位国家：
日本
项目类别：
Grant-in-Aid for Special Project Research
财政年份：
1979
资助国家：
日本
项目状态：
已结题
起止时间：
1979 至 --
来源：
https://kaken.nii.ac.jp/grant/KAKENHI-PROJECT-X00040----421408/
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共鳴フォ-クト効果分光法により単一原子検出
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  • 批准号：
    X00210----375005
  • 项目类别：
    Grant-in-Aid for Encouragement of Young Scientists (A)
  • 资助金额：
    $0.22万
  • 财政年份：
    1978
  • 负责人：
    田久保 嘉隆
  • 依托单位：
    Tokyo University of Agriculture and Technology