超高真空・高感度の二次イオン質量分析計の製作と金属学への応用
超高真空・高感度の二次イオン質量分析計の製作と金属学への応用
批准号:
X00070----343014
负责人:
梁野 檀
金额:
$15.87万
依托单位国家:
日本
项目类别:
Grant-in-Aid for General Scientific Research (A)
财政年份:
1978
资助国家:
日本
项目状态:
已结题
起止时间:
1978 至 1980
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