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エキソエレクトロンマップによる表面損傷度の評価

エキソエレクトロンマップによる表面損傷度の評価
利用外激电子图评估表面损伤程度
批准号：
X00090----455035
负责人：
駒井 謙治郎
金额：
$1.72万
依托单位：
Kyoto University
依托单位国家：
日本
项目类别：
Grant-in-Aid for General Scientific Research (C)
财政年份：
1979
资助国家：
日本
项目状态：
已结题
起止时间：
1979 至 1980
来源：
https://kaken.nii.ac.jp/grant/KAKENHI-PROJECT-X00090----455035/
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  • 批准号：
    17656045
  • 项目类别：
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  • 资助金额：
    $2.18万
  • 财政年份：
    2005
  • 负责人：
    駒井 謙治郎
  • 依托单位：
    Fukui National College of Technology
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  • 项目类别：
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  • 负责人：
    駒井 謙治郎
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  • 负责人：
    駒井 謙治郎
  • 依托单位：
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    $2.3万
  • 财政年份：
    1978
  • 负责人：
    駒井 謙治郎
  • 依托单位：
    Kyoto University