トンネル発光による極微小空間の磁気光学特性

隧道发射导致极小空间的磁光特性

• 批准号: 10135223
• 负责人: 西谷 龍介
• 金额: $ 1.41万
• 依托单位: Kyushu Institute of Technology
• 依托单位国家: 日本
• 项目类别: Grant-in-Aid for Scientific Research on Priority Areas (A)
• 财政年份: 1998
• 资助国家: 日本
• 起止时间: 1998 至 无数据
• 项目状态: 已结题
• 来源: https://kaken.nii.ac.jp/grant/KAKENHI-PROJECT-10135223/
• 关键词: STM; トンネル発光; 磁気光学効果; 局所磁性; ナノスケール; 局所物性; 微粒子; 表面プラズモン

今後のナノメータ・スケールでの磁気特性の測定のために、ナノメータ・スケールの空間分解能を有するトンネル発光の磁気光学特性の測定を用いたナノスケール磁気特性解析を目的とした。この測定を、空気中、真空中、液体中など種々の環境下で実現できることは、測定できる試料、条件の範囲を広げることに役立つと言える。そこで、本年度は、磁気光学測定の装置の製作、液体中でのトンネル発光スペクトルの測定、トンネル発光スペクトルの理論について研究を行った。トンネル発光の磁気光学測定を行うには微弱光を精度よく測定しなければならないので、従来用いていたトンネル発光STMを改良したSTM装置を製作した。このSTMでは、従来のものに較べてトンネル発光の集光立体角を5倍程度に増大するようにした。またトンネル発光の円偏光度がSTM測定と同時に測定できるようにした。真空チャンバーの外から、試料およびSTM探針の交換、また試料の位置調整が約1cmの範囲で位置分解能約10nmでできるように設計した。巨大磁気抵抗効果を示す物質などの局所磁気特性を調べるために、融点の高い磁性金属の薄膜作製用電子ビーム加熱蒸着装置を製作した。また、通常の抵抗加熱蒸着装置および半導体膜などのための分子ビーム蒸着装置も設置した。これらの作製装置はSTM測定真空チャンバーとつなげて、作製した試料を大気にさらさずにSTM装置のチャンバーへ移送できるようにした。またトンネル発光の理論解析を行い、微粒子サイズ依存性、トンネルギャップ媒質依存性を求めた。

In the future, the measurement of magnetic properties of the magnetic field can be used to analyze the magnetic field properties of the magnetic field. This measurement is carried out in air, vacuum, liquid and other environments. This year, we will conduct research on the manufacture of magneto-optical measurement equipment, the measurement of photo-detection parameters in liquids, and the theory of photo-detection parameters. The method of measuring the light intensity of the magnetic field is described in detail. The STM's light collection angle is 5 times larger than that of the light source. The polarization of light emitted by the laser beam is measured by STM and measured simultaneously. Vacuum probe, sample and STM probe exchange, sample position adjustment up to about 1cm range, position resolution up to about 10nm Electronic heating and evaporation device for manufacturing thin films of high magnetic metals with high melting point In general, the heat resistant evaporation device and the molecular evaporation device of the semiconductor film are arranged. The STM device is used to measure the vacuum, the sample is processed, and the STM device is transferred. The theoretical analysis of particle emission, particle dependence, particle dependence

项目成果

R.Nishitani: "STM induced photon emission at liquid-solid inteface" Surface Science. in press. (1999)

R.Nishitani：“STM 在液-固界面诱导光子发射”表面科学。

西谷龍介: "真空中及び液体中のトンネル発光スペクトル空間マッピング" Technical report of IEICE. OME98-82. 77-84 (1998)

Ryusuke Nishitani：“真空和液体中隧道发射光谱的空间映射”OME98-82 (1998) 的技术报告。

R.Nishitani: "A study of metal films using a spectrally resolved photon map obtained by spectrum mapping measurements of STM-induced light" Appl.Phys.A. 66. S139-S143 (1998)

R.Nishitani：“使用通过 STM 诱导光的光谱映射测量获得的光谱分辨光子图对金属薄膜进行研究”Appl.Phys.A。