Präzisionselementbestimmung in poly- und einkristallinen intermetallischen Verbindungen vom Typ (SE)Ni2B2C und (SE)2ÜMSi3
(SE)Ni2B2C 和 (SE)2àMSi3 型多晶和单晶金属间化合物中的精密元素测定
基本信息
- 批准号:5190956
- 负责人:
- 金额:--
- 依托单位:
- 依托单位国家:德国
- 项目类别:Research Grants
- 财政年份:1999
- 资助国家:德国
- 起止时间:1998-12-31 至 2001-12-31
- 项目状态:已结题
- 来源:
- 关键词:
项目摘要
Die physikalischen Eigenschaften von Funktionswerkstoffen, insbesondere von halbleitenden und supraleitenden nichtstöchiometrischen Verbindungen, werden empfindlich von teilweise sehr geringen Differenzen der chemischen Zusammensetzung bzw. der Phasen beeinflußt. Um solche Abhängigkeiten quantitativ untersuchen zu können, müssen analytische Methoden zur Hauptkomponentenbestimmung mit sehr hoher Genauigkeit angewandt werden, die bisher nur in Ausnahmefällen verfügbar sind. Im Rahmen des Projektes sollen deshalb methodische Grundlagen zur Präzisionsanalyse der Hauptkomponenten von (SE)Ni2B2C (mit SE = Y, Tb, Ho) und (SE)2(ÜM)Si3 (mit SE = Ce, Tb und ÜM = Pd, Co, Ni) entwickelt werden. Schwerpunkt sollen dabei die Entwicklung von chemischen Bestimmungsmethoden mit hoher Selektivität und Genauigkeit für die Elemente B, C, Ce, Co, Ho, Ni, Pd, Si, Tb und Y und Genauigkeitsverbesserungen spektrometrischer Analysemethoden für die Bestimmung aller genannten Elemente sein. Für die Charakterisierung der Einkristallhomogenität macht sich die Entwicklung spektrochemischer Verfahren mit hoher lateraler Auflösung notwendig. Schwerpunkt stellen hier die Auswahl und Charakterisierung geeigneter Standards, die Entwicklung genauer Analysemethoden für die simultane Bestimmung der Elemente und die Analyse von Einkristallen und Einzelkörnern in polykristallinen Phasen dar. Die Ergebnisse sollen in komplexe Analyseverfahren zur Charakterisierung der untersuchten Materialsysteme einfließen und zur Korrelation von chemischen und physikalischen Eigenschaften der untersuchten Systeme herangezogen werden.
在这一过程中,我们发现了一种新的、不同的分析方法和方法。分析了Hauptkomponenten von(SE)Ni2B2C(MIT SE=Y,Tb,Ho)和(SE)2(Tb,Ho)Si3(MIT SE=Ce,Tb,Ni)包裹体。元素B,C,Ce,Co,Ho,Ni,Pd,Si,Tb,Y和GenauigkeitsVerbesserungen光谱分析方法。这是一种新的光谱分析方法,它为我们提供了更多的信息。Schwerpenkt stellen hier de Auswahl and Charakterisierung Geeigneter Standard,die Entwickung Genauer Analysioden für die Simtane Bstimung der Elemente and die analytane von Einkristallen und Einzelkörnern in Polykristallinen Phasen dar.在不同的材料体系和不同的物质体系下,对物质体系和物质基础的分析都是错误的。
项目成果
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