二次イオン質量分析法による水素プラズマと固体表面との相互作用の研究
二次イオン質量分析法による水素プラズマと固体表面との相互作用の研究
利用二次离子质谱研究氢等离子体与固体表面之间的相互作用
批准号：
57780001
负责人：
佐竹 徹
金额：
$0.58万
依托单位：
依托单位国家：
日本
项目类别：
Grant-in-Aid for Encouragement of Young Scientists (A)
财政年份：
1982
资助国家：
日本
项目状态：
已结题
起止时间：
1982 至 --
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会议论文
二次イオン質量分析計とオージェ電子分光計による核融合第一壁材料の研究
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批准号：56750030
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项目类别：Grant-in-Aid for Encouragement of Young Scientists (A)
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资助金额：$0.51万
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财政年份：1981
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负责人：佐竹 徹
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依托单位：