パラジウム水素化物の超伝導と同位元素効果

氢化钯的超导性和同位素效应

• 批准号: 60213004
• 负责人: 森 克徳
• 金额: $ 2.05万
• 依托单位: University of Toyama
• 依托单位国家: 日本
• 项目类别: Grant-in-Aid for Special Project Research
• 财政年份: 1985
• 资助国家: 日本
• 起止时间: 1985 至 无数据
• 项目状态: 已结题
• 来源: https://kaken.nii.ac.jp/grant/KAKENHI-PROJECT-60213004/
• 关键词: 水素化物; 超伝導; 同位元素効果

1.超伝導転移温度Tcは膜厚に依存するのでスパッター膜を作る場合、膜厚を制御する必要があり膜厚モニタ(日本真空社製)が購入された。2.パラジウムターゲットを用い、アルゴンガス中に適当量の水素ガス(【H_2】)を導入しPdHxスパッター膜を作製した。水素ガスをアルゴンがスに対して相対的に増加させていくとスパッタリング速度が遅くなり同じ膜厚の試料を得るのに時間が長くなる。このため基板の温度もそれぞれ異っているものと思われる。3.水素ガス(【H_2】)を10%〜100%まで変化させて作製されたPdHxスパッター膜の電気抵抗が測定されたがいずれの試料も1.4K以上で超伝導を示さなかった。これは水素原子が十分な量(X>0.7)パラジウム膜に侵入しなかったことを意味する。原因としてはスパッター時間が長くなると基板の温度が高くなるためと考えられる。基板の温度のコントロールが必要である。4.ニオブをターゲットとして水素ガス(【H_2】)および重水素ガス(【D_2】)を用いてNbHx,NbDxスパッター膜を作製し、電気抵抗の測定によりTcの変化を調べた。(1)TcはNbHx,NbDxともに水素ガス(【H_2】,【D_2】)の増加により減少する。(2)これらの膜のX線回折から格子定数【A_0】を測定したところ水素原子の侵入の増加とともに【A_0】は増加する。このことに対応してTcが下っていることが分った。(3)吸収された水素の濃度の決定は重要なことであるがまだ十分できていない。現在試料の加熱により脱離してくる水素原子の量を質量分析器で分析し濃度を決定することを試みている。(4)水素ガス(【H_2】)および重水素ガス(【D_2】)を導入して作製されたスパッター膜で格子定数が等しい膜同志のTcを比較すると重水素が吸収された方が明らかにTcが下ることが見い出された(同位元素効果)。

1. When the super-conductive temperature Tc and film thickness depend on the film production, the film thickness must be controlled and the film thickness must be purchased from Nippon Vacuum Co., Ltd. 2. Use the appropriate amount of water in the パラジウムターゲットを and アルゴンガスSuガス(【H_2】)をIntroductionしPdHxスパッターfilmをProductionした.水素ガスをアルゴンがスに対して相対的に姗加させていくとスパッThe speed of the film is the same as the thickness of the sample and the time is long. The temperature of the substrate is the same as the substrate temperature. 3. Hydrogen ガス(【H_2】)を10%~100%まで変化させてされたPdHxスパThe electromagnetic resistance of the ッター film was measured using a superconducting sample of 1.4K or above.これは水atomicがが十なquantity (X>0.7)パラジウムにinfiltrationしなかったことをmeans する. The reason is that the time is long and the temperature of the substrate is high and the temperature is high. The temperature of the substrate must be adjusted accordingly. 4.ゲオブをターゲットとして水素ガス(【H_2】)およびHeavy water element ガス(【D_2】)をいてNbHx, NbDx スパッター film を production し, electric resistance の measurement によりTc の変化 を Adjustment べた. (1) TcはNbHx, NbDxともに水素ガス(【H_2】,【D_2】)のincrease and decreaseする. (2) The determination of the X-ray return of the film and the lattice determination [A_0] is the measurement of the intrusion of hydrogen atoms into the film [A_0] and the intrusion of the hydrogen atoms.このことに対応してTcが下っていることが分った. (3) It is very important to absorb water and determine the concentration of hydrogen. Now the sample is heated and separated, and the amount of hydrogen atoms is analyzed by the mass analyzer and the concentration is determined, and the test is carried out. (4) Hydrogen ガス(【H_2】)およびHeavy hydration element ガス(【D_2】)をIntroduction and manufacturingしい片comradeのTcをComparisonするとHeavy water elementがabsorptionされた方が明らかにTcが下ることが见い出された(isotopic element effect).

项目成果

Symposium on New Superconducting Materials. (1986)

新型超导材料研讨会。