エキソ電子線量計による表面吸収線量測定の研究

外激电子剂量计表面吸收剂量测量研究

• 批准号: 61580191
• 负责人: 青木 正義
• 金额: $ 0.83万
• 依托单位: University of Fukui
• 依托单位国家: 日本
• 项目类别: Grant-in-Aid for General Scientific Research (C)
• 财政年份: 1986
• 资助国家: 日本
• 起止时间: 1986 至 无数据
• 项目状态: 已结题
• 来源: https://kaken.nii.ac.jp/grant/KAKENHI-PROJECT-61580191/
• 关键词: エキソ電子放射; 固体線量計; 積分線量計; 皮ふ線量測定; 表面物性

1.エネルギーの異なる種々のβ線源(【^(63)Ni】,【^(147)Pm】,【^(204)T1】,【^(90)Sr】・【^(90)Y】)を用いて放射線感度の高いセラミックBeO試料(Thermalox995)にβ線照射した後、熱刺激によって放出されるエキソ電子放射を試べた結果、一定の入射β粒子数に対する放出エキソ電子数の比(エキソ電子効率)は平均β線エネルギーの増大と共に減少することを見出した。この減少の様子は試料表面層における電子の各エネルギーにおける阻止能の変化に対応している。また【^(63)Ni】より更にエネルギーの低い【^3H】のβ線を照射したが、この結果も電子の阻止能曲線に対応したものであった。2.【^3H】より更に低いエネルギー領域を調べるため、真空中で0.2〜3.5kVで加速した単一エネルギーの電子線をAl板上に形成された【Al_2】【0_3】皮膜試料に照射した。この時のエキソ電子の放出効率は加速電圧の増加と共に次第に増加して約2.5kVで極大になり、それ以上では次第に減少した。これは、最初エキソ電子放出効率は入射電子エネルギーと共に増加するがエネルギー増大と共に電子が表面層より深く入射するため、深いところにdepositされたエネルギーはエキソ電子放出に寄与しなくなるためである。極大値を示す2.5kVに対応する電子の平均飛程より試料表面層の厚さは約1200【A!°】と推定される。別にZnO皮膜試料のX線照射実験を行ったが、これとほゞ同程度の値が得られた。3.以上のようなエキソ電子放出と電子エネルギーのやゝ相反的な関係からエキソ電子線量計によって直ちにICRP勧告のいう皮ふ表面7mg/【cm^2】での吸収線量を測定することは困難である。しかし、エキソ電子線量計素子表面に種々の厚さの薄膜(0〜7mg/【cm^2】)を置いてβ線を照射した後エキソ電子を測定し、薄膜中で吸收されたエネルギーの総和より皮ふ表面7mg/【cm^2】に吸收された線量を算出することが可能であることが解った。目下この方法で表面線量測定の実験をすゝめている。

1. β-ray sources ([^(63) Ni],[^(147) Pm],[^(204) T1],[^(90) Sr]·[^(90) Y]) are used in the production of radioactive materials.(Thermalox 995) After beta irradiation, thermal stimulation, emission of electrons, the ratio of the number of electrons emitted for a certain number of incident beta particles, the increase of the average beta generation, and the decrease of the total electron emission were observed. This reduces the number of electrons in the surface layer of the sample and prevents the change of energy in the sample. [^(63) Ni] is the most important element in the electron protection curve. 2. [Al_2][0_3] film samples were formed on Al plates by electron lines accelerated from 0.2 to 3.5kV in vacuum. The emission efficiency of these electrons increases gradually from the acceleration voltage to about 2.5kV, and decreases gradually from the maximum voltage to the maximum voltage. The initial electron emission efficiency increases with the increase of the electron emission efficiency. The maximum value is 2.5kV. The average flight path of electrons is about 1200 [A! (c) Presumption of the day. The X-ray irradiation of ZnO film samples was carried out to the same extent. 3. It is difficult to measure the absorption of 7 mg/cm^2 on the surface of the skin due to the inverse relationship between the above electron emission and electron generation. The electron dosimeter is used to measure the electron absorption in the thin film (0~7 mg/cm^2) irradiated with beta rays and to calculate the amount of absorption in the thin film (0~7 mg/cm^2). The present method is used to determine the surface roughness.

项目成果

青木,岡部,各務,西川: 昭和62年日本原子力学会年会要旨集. G-50 (1987)

Aoki、Okabe、Kagami、Nishikawa：1986 年日本原子能学会 G-50 年会摘要（1987 年）。

S.Okabe;M.Aoki;T.Nishikawa: Radiation Protection Dosimetry. 8. (1987)

S.Okabe；M.Aoki；T.Nishikawa：辐射防护剂量测定。

青木,西川,岡部,渡辺,松山: 富山大学トリチウム科学センター研究報告. 6. (1987)

青木、西川、冈部、渡边、松山：富山大学氚科学中心研究报告6。（1987）