誘電体厚膜材料の破壊機構の解明と新しい信頼性評価法の開発
誘電体厚膜材料の破壊機構の解明と新しい信頼性評価法の開発
阐明介电厚膜材料的击穿机理并开发新的可靠性评估方法
批准号：
63750766
负责人：
藤津 悟
金额：
$0.58万
依托单位：
依托单位国家：
日本
项目类别：
Grant-in-Aid for Encouragement of Young Scientists (A)
财政年份：
1988
资助国家：
日本
项目状态：
已结题
起止时间：
1988 至 --
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会议论文
イオン-電子混合伝導性酸化亜鉛薄膜の機構解明とガスセンサーへの応用
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批准号：01750731
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项目类别：Grant-in-Aid for Encouragement of Young Scientists (A)
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资助金额：$0.51万
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财政年份：1989
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负责人：藤津 悟
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依托单位：
異物質界面を利用した新しい固体電解質の開発
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批准号：61750753
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项目类别：Grant-in-Aid for Encouragement of Young Scientists (A)
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资助金额：$0.58万
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财政年份：1986
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负责人：藤津 悟
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依托单位：