M系列を用いる論理回路およびメモリの故障診断

使用 M 系列进行逻辑电路和存储器的故障诊断

• 批准号: 02650307
• 负责人: 柏木 潤
• 金额: $ 1.41万
• 依托单位: Kumamoto University
• 依托单位国家: 日本
• 项目类别: Grant-in-Aid for General Scientific Research (C)
• 财政年份: 1990
• 资助国家: 日本
• 起止时间: 1990 至 无数据
• 项目状态: 已结题
• 来源: https://kaken.nii.ac.jp/grant/KAKENHI-PROJECT-02650307/
• 关键词: 故障診断; メモリ; 論理回路; M系列; 擬似不規則信号; ランダム信号

(1)CPUおよびその周辺回路を含んだボ-ドの故障診断ができるシステムを構築した.具体的には,パソコンPCー9801の拡張ボ-ドの一つにZ80を組み込んだボ-ドを挿入し,それに検査対象回路を接続して,その検査対象回路に色々の故障を発生させて,筆者等の開発したMSEC法と呼ばれる故障診断法を用いて故障検出できるか否かの実験を行なっダた.検査出象回路としては,DtypeFFとFull Adderを用いた.Full Adderでは入力5点,出力3点で,挿入した故障はショ-ト5ヶ所,断線3ヶ所をスイッチで任意に入れることができるような回路を構成した.その結果,本方法を用いると故障検出ができるだけでなく,使用した検査対象回路の場合,大部分は100%(少数のものは50%)の確率で故障箇所の検出も行うことができることがわかった.(2)ICのメモリのパタ-ン依存故障を検出する方法として,2次元のメモリ配列について,M系列を用いる方法を筆者等は先に開発したが,本年度は更にそれを発展させて,3次元メモリについて,3次元のパタ-ン依存故障を検出できるアルゴリズムを開発することに成功した.すなわち,メモリは高集積化・高密度化が進んでおり,近い将来3次元的に集積化されることが予想されるので,本研究ではそれを見越して3次元のパタ-ン依存故障を検出する簡便で用法が容易な方法を開発した.具体的には注目するセルの東西南北および上層・下層の計6セルのパタ-ンが,すべてのフェ-ズですべて異なり一度の重複もなく変わるように,M系列を書き込んで行く方法を開発した.

(1)CPUおよびそ およびそ 辺 辺 loop を containing んだボ-ド <s:1> fault diagnosis がで るシステムを るシステムを construction of た た. Specific に は, パ ソ コ ン PC ー 9801 の company, zhang ボ - ド の a つ に Z80 を group み 込 ん だ ボ - ド を scions into し, そ れ に 検 check like loop を seaborne meet 続 し て, そ の 検 zha like loop に seaborne 々 の fault を 発 raw さ せ て, the author such as open の 発 し た と MSEC method called ば れ る fault diagnosis を with い て fault 検 out で き る か no か の be 験 Youdaoplaceholder0 lines なっダた. Youdaoplaceholder0 find out the image circuit と て て,DtypeFFとFull Adderを use た た.Full Adder で は into force five points, output で 3 o 'clock, scions into し た fault は シ ョ - 5 ヶ ト, break line 3 ヶ を ス イ ッ チ で に into any れ る こ と が で き る よ う な loop を constitute し た. そ の results, this method USES を い る と fault 検 out が で き る だ け で な く, use し た 検 check like loop の seaborne occasions, most は 100% (a few の も の は 50%) の rate で fault a truly の 検 も row う こ と が で き る こ と が わ か っ た. (2) IC の メ モ リ の パ タ - ン dependent failure を 検 out す る method と し て, 2 dimensional の メ モ リ match column に つ い て, M series を い る methods を author は に first 発 し た が, this year more に は そ れ を 発 exhibition さ せ て, 3 dimensional メ モ リ に つ い て, 3 dimensional の パ タ - ン dependent failure を 検 out で き る ア ル ゴ リ ズ ム を open 発 す る こ と に successful し た. す な わ ち, メ モ リ は high set product, the limited が into ん で お り, nearly い future に set product of 3 dimensional さ れ る こ と が to think さ れ る の で, this study で は そ れ を see more し て 3 dimensional の パ タ - ン dependent failure を 検 Simple する usage が easy な method を development た た Specific に は attention す る セ ル の north and south, east and west お よ び upper, lower の 6 セ ル の パ タ - ン が, す べ て の フ ェ - ズ で す べ て different な り の repeat once も な く - わ る よ う に, M series を book き 込 ん で line く method を open 発 し た.