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荷電粒子識別用シリコン表面障壁型半導体検出器の開発

荷電粒子識別用シリコン表面障壁型半導体検出器の開発
开发用于带电粒子识别的硅表面势垒型半导体探测器
批准号：
04858056
负责人：
神野 郁夫
金额：
$0.51万
依托单位：
Kyoto University
依托单位国家：
日本
项目类别：
Grant-in-Aid for Encouragement of Young Scientists (A)
财政年份：
1992
资助国家：
日本
项目状态：
已结题
起止时间：
1992 至 --
来源：
https://kaken.nii.ac.jp/grant/KAKENHI-PROJECT-04858056/
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医療診断応用を目指した電流測定型X線エネルギー検出器の開発
  • 批准号：
    18656272
  • 项目类别：
    Grant-in-Aid for Exploratory Research
  • 资助金额：
    $2.24万
  • 财政年份：
    2006
  • 负责人：
    神野 郁夫
  • 依托单位：
    Kyoto University
C60含有薄膜の製作とその放射線検出器への応用
  • 批准号：
    15656240
  • 项目类别：
    Grant-in-Aid for Exploratory Research
  • 资助金额：
    $1.92万
  • 财政年份：
    2003
  • 负责人：
    神野 郁夫
  • 依托单位：
    Kyoto University
半導体中の正孔-アクセプタの励起を用いた極低温放射線検出器の基礎研究
  • 批准号：
    10878077
  • 项目类别：
    Grant-in-Aid for Exploratory Research
  • 资助金额：
    $1.28万
  • 财政年份：
    1998
  • 负责人：
    神野 郁夫
  • 依托单位：
    Kyoto University
シリコン表面障壁型半導体検出器における中性子照射効果のその場観察法の開発
  • 批准号：
    06858050
  • 项目类别：
    Grant-in-Aid for Encouragement of Young Scientists (A)
  • 资助金额：
    $0.58万
  • 财政年份：
    1994
  • 负责人：
    神野 郁夫
  • 依托单位：
    Kyoto University