半導体位置検出素子を用いたレーザ流速計の開発

开发使用半导体位置检测元件的激光电流计

• 批准号: 06750179
• 负责人: 坂口 大作
• 金额: $ 0.58万
• 依托单位: Nagasaki University
• 依托单位国家: 日本
• 项目类别: Grant-in-Aid for Encouragement of Young Scientists (A)
• 财政年份: 1994
• 资助国家: 日本
• 起止时间: 1994 至 无数据
• 项目状态: 已结题
• 来源: https://kaken.nii.ac.jp/grant/KAKENHI-PROJECT-06750179/
• 关键词: レーザ流速計; 半導体位置検出素子; 半導体レーザ; 散乱光

半導体位置検出素子(Position Sensitive Detector:PSD)は,光入力位置を電位として出力するものであり,これをバンド型の焦点構造を持たせたレーザ2焦点流速計の受光素子として用いれば,粒子が2焦点間を飛行する時間および粒子通過位置により粒子の速度ベクトルが直接計測できる.このような観点のもと,光源にワイドストライプ型半導体レーザ,受光部に1次元位置検出用PSDを用いたレーザ2焦点流速計の光学系を試作した.半導体レーザは光出力1Wのものを使用し,バンド状に形成される2焦点の焦点長さは約0.8mmである.このバンド型焦点を通過した粒子による散乱光を,倍率40の対物レンズにより拡大しPSDへ導いた.PSDの有効受光面積は2.5×34mmであり,焦点長さを満足する.さらに位置検出精度を保つためにPSD出力信号を可変増幅できる回路を付加した.また計測を行う場合には,以下の項目を考慮する必要があることが明かとなった.1.散乱粒子直径分布による検出誤差散乱粒子が焦点部分を通過する位置が電位として出力されるが,散乱光強度は粒子直径の2乗に比例して増加するので,粒子直径のばらつきが出力電位の誤差となる.よって本システムにおいては粒子直径のばらつきが少ない基準粉体を使用しなければならない.2.焦点部光強度分布による検出誤差焦点深度は約1mmであり光強度分布を光線追跡法により計算したところ,光軸方向の粒子通過位置の違いにより散乱光強度がばらつくことがわかった.しかしながら,粒子が焦点部分を通過する時間(発光時間)を同時計測し,光強度分布の計算結果と対比することにより光軸方向の粒子通過位置は判断できる.よってPSDが出力する電位データを発光時間データで補正することができ,計測精度の向上には飛行時間,PSD電位出力および発光時間の同時計測が必要条件となる.

The semispherical position is Position Sensitive Detector:PSD, the position of light is loaded, the electric potential is used to output power, the focus of the device is used to calculate the flow rate of the focus, the velocity of the focus is measured, and the focus of the particle is used to calculate the flow rate of the photon, and the focus of the particle is measured. The light source is in the shape of a half-body, and the light-receiving part is in an one-dimensional position using the PSD to calculate the flow rate of the focal point. The output of the semicircular beam is 1W, the output power is 1W, and the focal point is about 0.8mm. The focus of this type of light is scattered through the laser particles, and the ratio is 40%. The PSD has a positive light surface of 2.5 × 34mm, and the focus is full of light. The precision of the position can be measured by the output signal of the PSD. The following items are required to meet the requirements of the project. 1. The diameter distribution of scattered particles is different from that of scattered particles. The focal point of scattered particles is affected by the position, the electric potential, the output, the intensity of light, the diameter of particles, the output of electric potential, the difference of electric potential. In this case, the diameter of particles is different from that of basic powders. The distribution of light intensity in the focal area shows that the depth of the focus is different from that of the 1mm. The optical ray tracing method is used to calculate the optical intensity, and the particles in the optical direction are scattered through the position of the particles. The optical intensity distribution is calculated at the same time. The results show that the position of the particles in the optical direction is better than that of the particles in the direction of light. It is necessary for the PSD to work on the optical time, the accuracy of the calculation is higher, the optical time of the PSD, and the necessary conditions for the calculation.