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微粒子の側方散乱ホログラム計測法の研究

细颗粒物侧向散射全息测量方法研究

基本信息

批准号：
07650060
负责人：
村上昭年
金额：
$ 1.28万
依托单位：
Kobe Design University
依托单位国家：
日本
项目类别：
Grant-in-Aid for Scientific Research (C)
财政年份：
1995
资助国家：
日本
起止时间：
1995 至 1996
项目状态：
已结题

来源：
https://kaken.nii.ac.jp/grant/KAKENHI-PROJECT-07650060/
关键词：
粒子計測微粒子粒子の側方光散乱ホログラム

项目摘要

1.Mieの散乱理論に基づき、球形微粒子による側方散乱のシミュレーションホログラムを作成した。粒径dと粒子散乱体から記録面までの距離Zおよび画面の大きさ(一辺L)を与え、干渉パターンの強度を512×512点で計算し、256階調の画像を作る。この画像を、フィルムレコーダを用いて35mmフィルムに撮影すると、M=23.5×10^3/L倍に拡大されたホログラムが得られる。ここで、距離Zに対するLは、散乱光の取り込み角、記録される情報量を決める重要なパラメターとなる。このホログラムは、粒子が約1ミクロン以上になると、粒径によって大きく異なった特徴あるパターンを示すことが分かった。2.得られたホログラムHe-Neレーザによる光学的再生実験により以下の知見が得られた。(1)再生像は、距離Zの(M×M)倍の位置で、M倍の像が再生されること。(2)粒子が小さいと円形の光点を結像するが、粒径が1ミクロン以上になると、球形粒子であるにもかかわらず、円形の再生像とならないで、Mle理論による特定方向への散乱光放射パターンを反映した像となる。(3)再生像の特徴パターンは、ホログラム作成時のLとZの比で決まる取り込み情報量に左右される。3.実験的に側方散乱ホログラムを得るために、参照光が粒子を照射しないように工夫した装置を提案。これらの成果は、平成8年度応用物理学会九州支部講演会(予講集p89)、光学連合シンポジウム福岡'96(予講集p.115)、平成8年度微粒化シンポジウム(講演論文集p182-185)で発表している。

1. Mie's scattering theory is based on the theory of spherical particles. Particle size d Particle scattering volume Recording surface Distance Z Picture size (L) and Dry Intensity 512×512 points Calculation 256 gradation of the picture The image of this image is 35mm in diameter and M=23.5×10^3/L in diameter. For example, the distance Z is equal to L, the scattered light is equal to L, and the recorded information is equal to L. The size of the particles is about 1 mm and the characteristics are different. 2. The following observations were made about the optical regeneration of He-Ne laser. (1)The regenerated image is located at a distance Z times (M×M) and M times (M times). (2)The particle size is larger than 1 mm, the spherical particle size is larger than 1 mm, the (3)The ratio of L to Z in the creation of the reproduction image is determined by the amount of information. 3. The lateral scattering of light and reference light is proposed. The results were presented at the Kyushu Branch Lecture Meeting of the Society for Applied Physics, Heisei 8 (Lecture Collection p89), the Optical Integration Program Fukuoka '96(Lecture Collection p.115), and the Micronization Program Heisei 8 (Lecture Collection p182-185).