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Evaluation of Damage in DNA Molecules caused by Very-Low-Frequency Magnetic Fields Using Bacterial Cells

使用细菌细胞评估极低频磁场引起的 DNA 分子损伤

基本信息

批准号：
15360153
负责人：
HAGA Akira
金额：
$ 7.42万
依托单位：
Tohoku Gakuin University
依托单位国家：
日本
项目类别：
Grant-in-Aid for Scientific Research (B)
财政年份：
2003
资助国家：
日本
起止时间：
2003 至 2005
项目状态：
已结题

来源：
https://kaken.nii.ac.jp/grant/KAKENHI-PROJECT-15360153/
关键词：
very-low-frequency magnetic field(VLFMF)manetic field expouseure sos mutation repairinu gene Damage in DNA Molecules β-galactosidase 磁界暴露 Salmonella Typhimurium

项目摘要

The effect of intermediate frequency magnetic fields or, very-low-frequency magnetic fields (VLFMIF) on living biological cells was investigated using a highly sensitive mutagenesis assay method. A bacterial gene expression system for mutation repair (umu system) was used for the sensitive evaluation of damage in DNA molecules. According to Miyakoshi's investigation, mutant frequency of HPRT gene was proportional to the induced current.In our study, Salmonella typhimurium TA1535 /pHYUmuLuxAB were exposed to VLFMF (20 kHz and 1mT) in a specially designed magnetic field loading chamber.20 kHz and 1mT was almost same as 50 Hz and 400 mT in terms of f×B. However, no significant differences between exposure to 20 kHz and 1 mT magnetic fields and control were observed in the umu gene expression. This may be attributed to the radius of Schale for culture. The induced current density in culture is shown following equation.J=_<σΠ> fBrWhere σ : conductivity of culturef : magnetic field frequencyB : magnetic flux densitiesr : radius of ShaleThe induced current is proportional to not only f×B but also r of Schale for culture. The radius r of Schale used by experiment of Miyakoshi was approximately 10 times larger than that of microtube using in our study. Then current induced by 50 Hz and 400 mT magnetic field was 10 times larger than that of our experiment.

采用高灵敏度的诱变分析方法研究了中频磁场或甚低频磁场（VLFMIF）对活生物细胞的影响。突变修复的细菌基因表达系统（umu系统）用于DNA分子损伤的敏感性评价。本研究在一个专门设计的磁场加载室中，将鼠伤寒沙门氏菌TA 1535/pHYUmuLuxAB暴露于20 kHz和1 mT的VLFMF中，20 kHz和1 mT与50 Hz和400 mT的f×B基本相同。然而，暴露于20 kHz和1 mT的磁场和对照组之间没有显着差异，观察umu基因的表达。这可能是由于Schale的文化半径。培养物中的感应电流密度为：J=_<σ b> fBr其中σ：培养物的电导率f：磁场频率B：磁通密度r：页岩半径感应电流不仅与f×B成正比，而且与页岩半径r成正比。Miyakoshi实验中使用的Schale半径r大约是我们研究中使用的微管半径的10倍。50 Hz、400 mT磁场下的感应电流比实验值大10倍。

项目成果

期刊论文数量（24）

专著数量（0）

科研奖励数量（0）

会议论文数量（0）

专利数量（0）

芳賀昭, 熊谷嘉晃, 遠藤銀朗, 松木英敏: "発光遺伝子を組み込んだ細菌細胞を用いたVLF磁界曝露によるDNA損傷の評価"電気学会マグネティクス研究会. MAG-03-90. 15-19 (2003)

Akira Haga、Yoshiaki Kumagai、Ginro Endo、Hidetoshi Matsuki：“使用包含发光基因的细菌细胞评估暴露于 VLF 磁场引起的 DNA 损伤”IEEJ MAG-03-90 (2003)。

DOI：
发表时间：
期刊：
影响因子：
0
作者：
通讯作者：

Evaluation of Damage in DNA Molecules by Very Low Frequency magnetic Field Using Bacterial Cells with Bioluminescence Gene

利用带有生物发光基因的细菌细胞评估极低频磁场对 DNA 分子的损伤

DOI：
发表时间：
2004
期刊：
Proceedings of International Symposium on Electromagnetic Compatibility, EMC Sendai 2004 Vol.1
影响因子：
0
作者：
Akira Haga;Yoshiaki Kumagai;Hidetoshi Mathuki;Ginro Endo
通讯作者：
Ginro Endo

芳賀昭, 鎌田清孝校, 沖津隆志, 村松和弘: "環境電磁界の評価-電磁調理器から生ずる漏洩磁界の測定と磁場解析-"Proceeding of Conference on Electromagnetic Phenomena and dynamics. 207-212 (2004)

Akira Haga、Kiyotaka Kamata、Takashi Okitsu、Kazuhiro Muramatsu：“环境电磁场的评估 - 电磁炊具产生的泄漏磁场的测量和磁场分析”电磁现象和动力学会议记录 207-212 (2004)。