アクロマティック位相シフターによる高感度実時間光波干渉断層画像計測の検討

本研究の目的はでは,アクロマティック位相シフターの原理に基づく2次元OCTの高感度かつ実時間計測である。これまでの研究において、2回のカメラ計測、すなわち2つの位相の異なる干渉縞の計測で、十分な強度情報の画像の抽出が可能であることがわかった。そこで、本年度は、ワイドダイナミックレンジカメラを用い、位相の異なる干渉縞を同時に検出するための光学系の改良を行った。干渉計へは450直線偏光の光を入射し、参照側には1/4波長板、物体側には偏光板を45゜に配置した。参照ミラーからの参照光とサンプルから信号光が干渉すると偏光状態が直交する干渉信号は180゜の位相差を持つ。すなわちカメラでは、反転した2つの干渉縞を同時に検出することになる。この2つの干渉縞から差の絶対値を求めると強度情報の画像が得られる。しかし、実際には偏光のずれや端面による反射光の影響の残ってしまった。そこで予め参照光のみをカメラで計測し、その画像を引くことで、誤差の軽減を図った。この補正処理により、反射光が弱い生体試料において断層画像を得ることができた。空間分解能を評価した結果、対物レンズの倍率が5倍のとき、横方向分解能は5.5umで測定視野は0.55mmX0.55mmであった。または光軸分解能7umであった。

本研究の目的はでは,アクロマティック位相シフターの原理に基づく2次元OCTの高感度かつ実時間計測である。これまでの研究において、2回のカメラ計測、すなわち2つの位相の異なる干渉縞の計測で、十分な強度情報の画像の抽出が可能であることがわかった。そこで、本年度は、ワイドダイナミックレンジカメラを用い、位相の異なる干渉縞を同時に検出するための光学系の改良を行った。干渉計へは450直線偏光の光を入射し、参照側には1/4波長板、物体側には偏光板を45゜に配置した。参照ミラーからの参照光とサンプルから信号光が干渉すると偏光状態が直交する干渉信号は180゜の位相差を持つ。すなわちカメラでは、反転した2つの干渉縞を同時に検出することになる。この2つの干渉縞から差の絶対値を求めると強度情報の画像が得られる。しかし、実際には偏光のずれや端面による反射光の影響の残ってしまった。そこで予め参照光のみをカメラで計測し、その画像を引くことで、誤差の軽減を図った。この補正処理により、反射光が弱い生体試料において断層画像を得ることができた。空間分解能を評価した結果、対物レンズの倍率が5倍のとき、横方向分解能は5.5umで測定視野は0.55mmX0.55mmであった。または光軸分解能7umであった。