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蛍光X線分析用環境標準物質の開発

荧光X射线分析环境标准物质的研制

基本信息

批准号：
18750136
负责人：
中野和彦
金额：
$ 2.37万
依托单位：
Osaka City University
依托单位国家：
日本
项目类别：
Grant-in-Aid for Young Scientists (B)
财政年份：
2006
资助国家：
日本
起止时间：
2006 至 2007
项目状态：
已结题

项目摘要

蛍光X線分析に対応した環境分析用の標準物質に関しては,小麦や米粉など食材試料中の金属元素分析用の標準物質を作製した。新たな食材標準物質の作製方法として,有機金属試薬をトルエンなどの有機溶剤で溶解させた標準溶液を,食材粉末に所定量添加・混合し,溶剤を蒸発させることで,食材試料にppmオーダーで目的元素を均質に分布させることに成功した。さらに三次元偏光光学系-蛍光X線測定により,実験室系の蛍光X線分析装置により,0,1ppm以下の検出感度を得ることが出来た。また,プラスチック中の有害金属を蛍光X線分析で定量するための標準物質として,JSACO631,0632を,土壌中の有害金属を定量するための標準物質として,JSACO641-0646をそれぞれ,(社)日本分析化学会の下,開発・認証を行った。さらに蛍光X線分析で,ミクロンレベル以下の微小部領域を分析する観点から,「三次元微小領域分析」および「極微量分析」の可能性を探る実験を行った。近年,X線集光素子の発達により,実験室レベルでもミクロンレベルの微小部分析が可能となってきている。しかしながら従来の微小部蛍光X線分析では,試料内部の元素情報や,ppb レベルの微量分析は困難であった。前者の三次元微小部領域分析では,X線集光素子であるポリキャピラリーレンズを,X線照射側と検出側に取り付けた共焦点型三次元蛍光X線分析装置の開発、評価を行い,平面方向で30μm,深さ方向で80μmの分解能で試料内部の元素情報を取得することが可能となった。後者の極微量蛍光X線分析では,X線全反射現象を利用した微小部全反射蛍光X線装置を試作した。今後は,開発した装置の正確な評価を行うため,微小領域および微小空間分析用の標準物質を開発する必要がある。

Reference Materials for Environmental Analysis in X-ray Analysis: Preparation of Reference Materials for Analysis of Metal Elements in Wheat and Rice Flour Samples The preparation method of the new food standard substance is as follows: organic metal sample is dissolved in organic solvent, standard solution is quantitatively added to food powder, solvent is evaporated, ppm of food sample is uniformly distributed, and the target element is successfully distributed. 3-D polarized optical system-X-ray measurement, X-ray analyzer of laboratory system, detection sensitivity below 0,1ppm Reference Materials for Quantitative Determination of Hazardous Metals in Soil by X-ray Analysis,JSACO631,0632, JSACO641-0646, Development and Certification under the Japan Society of Analytical Chemistry. In addition, X-ray analysis is carried out to explore the possibility of "three-dimensional micro-domain analysis" and "micro-particle analysis". In recent years, the development of X-ray collectors has made it possible to analyze the micro-components of X-ray collectors. X-ray analysis of micro-components is difficult because of the element information in the sample and the ppb analysis of micro-components. For the former three-dimensional micro-domain analysis, X-ray collector elements are selected from the X-ray irradiation side and the X-ray emission side. The development and evaluation of confocal three-dimensional X-ray analyzer are possible. The decomposition energy in the plane direction is 30μm and the depth direction is 80μ m. The elemental information in the sample is obtained. The latter is an X-ray analysis of fine particles, and the X-ray total reflection phenomenon is used to try out the X-ray device with small partial total reflection. In the future, it is necessary to develop standard materials for micro-domain and micro-space analysis.