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Nano-scale properties of correlated oxide thin films studied with scanning probe microscopes

Nano-scale properties of correlated oxide thin films studied with scanning probe microscopes
用扫描探针显微镜研究相关氧化物薄膜的纳米级特性
批准号:
19840014
负责人:
OGAWA Naoki
金额:
$1.99万
依托单位:
依托单位国家:
日本
项目类别:
Grant-in-Aid for Young Scientists (Start-up)
财政年份:
2007
资助国家:
日本
项目状态:
已结题
起止时间:
2007 至 2008

项目摘要

项目成果

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中文摘要
翻译
本研究では、強相関電子系酸化物薄膜の測定に適した走査型トンネル顕微鏡システムを構築し、大気暴露後の試料表面の清浄化法を探索するとともに、ナノスケールでの表面・界面電子物性測定を試みることを目的とした。現在までに顕微鏡システムの基本性能を確認したが、未だ対象とする酸化物薄膜試料において表面清浄化の結論は得られていない。今後各種手法による表面清浄化を試み、また様々な試料系において物性測定を行うとともに、プローブ顕微鏡探針からの電界や電子注入による物性の改変、光近接場、また吸着原子・分子を介して、磁性を含めその表面・界面物性の制御を試みたい。
英文摘要
本研究では、強相関電子系酸化物薄膜の測定に適した走査型トンネル顕微鏡システムを構築し、大気暴露後の試料表面の清浄化法を探索するとともに、ナノスケールでの表面・界面電子物性測定を試みることを目的とした。現在までに顕微鏡システムの基本性能を確認したが、未だ対象とする酸化物薄膜試料において表面清浄化の結論は得られていない。今後各種手法による表面清浄化を試み、また様々な試料系において物性測定を行うとともに、プローブ顕微鏡探針からの電界や電子注入による物性の改変、光近接場、また吸着原子・分子を介して、磁性を含めその表面・界面物性の制御を試みたい。
期刊论文(0)
专著(0)
科研奖励(0)
会议论文
STMと光による単一分子分光
使用 STM 和光的单分子光谱
DOI: --
发表时间: 2008
期刊:
影响因子: --
作者: [N. Ogawa, T. Satoh, Y. Ogimoto, and K. Miyano, 小川直毅]
通讯作者: 小川直毅
絶縁膜上単一分子のSTM/STS
绝缘膜上单分子的STM/STS
DOI: --
发表时间:
期刊:
影响因子: --
作者: [Naoki Ogawa, T. Satoh, Y. Ogimoto, and K. Miyano, 小川直毅]
通讯作者: 小川直毅
DOI: --
发表时间:
期刊:
影响因子: --
作者: [Naoki Ogawa, T. Satoh, Y. Ogimoto, and K. Miyano]
通讯作者: and K. Miyano
DOI: 10.1103/physrevb.78.212409
发表时间: 2008
期刊: Physical Review B
影响因子: 3.7
作者: [N. Ogawa, T. Satoh, Y. Ogimoto, K. Miyano]
通讯作者: K. Miyano
Development of environmental cell with graphene thin film for scanning electron microscope.
Charge and orbital degrees of freedom at interfaces studied with nonlinear optics
  • 批准号:
    21740243
  • 项目类别:
    Grant-in-Aid for Young Scientists (B)
  • 资助金额:
    $2.91万
  • 财政年份:
    2009
  • 负责人:
    OGAWA Naoki
  • 依托单位:
海外基金