Research for instance based irregularity detection

基于实例的不规则检测研究

• 批准号: 19700148
• 负责人: KATO Takekazu
• 金额: $ 2.46万
• 依托单位: National Institute of Information and Communications Technology (2008)Wakayama University (2007)
• 依托单位国家: 日本
• 项目类别: Grant-in-Aid for Young Scientists (B)
• 财政年份: 2007
• 资助国家: 日本
• 起止时间: 2007 至 2008
• 项目状态: 已结题
• 来源: https://kaken.nii.ac.jp/grant/KAKENHI-PROJECT-19700148/
• 关键词: 異常検出; 1クラス識別器; 最近傍探索; 最近傍識別; クラスタリング; 最近傍検索; 外観検査

監視カメラや半導体製造ラインの検査画像から、監視対象や製品の異常を自動的に検出するための識別器を過去に得られた正常なシーンの事例から学習し、それを用いて異常を高速に識別するアルゴリズムを開発した。また、実際に半導体製造ラインの検査画像、監視カメラ映像からの異常検出に適用し有効性を確認した。また画像以外に電力センシングデータからの異常検出についても検討した。

Monitor the semiconductor production process, inspect the image, monitor the object, automatically detect the abnormality of the product, and identify the abnormal case in the past. Learn from it and identify the abnormal case at high speed. Check the image, monitor the image, and confirm the applicability of the abnormality detection in the semiconductor production process. In addition to the image, the power supply unit is not in the abnormal detection unit.

项目成果

パターンの近接性と密度推定に基づく1クラス識別器

基于模式邻近度和密度估计的一类分类器

• 发表时间: 2008
• 作者: J. Li;S. Sakamoto;S. Hongo;M. Akagi and Y. Suzuki;Tsubasa Yamamoto,Tomonobu Ozaki,Takenao Ohkawa;佐野真通
• 通讯作者: 佐野真通

パターンの近接性に基づく1クラス識別器

基于模式邻近度的一类分类器

• 发表时间: 2007
• 作者: J. Li;S. Sakamoto;S. Hongo and Y. Suzuki;祢次金孝;加藤丈和
• 通讯作者: 加藤丈和

姿勢パラメータ埋め込みと最近傍探索によるスキップスキャン検出

使用位姿参数嵌入和最近邻搜索进行跳过扫描检测

• 发表时间: 2008
• 作者: Hoya;T;小倉将義
• 通讯作者: 小倉将義

顕著性に基づく外観検査のための異常検出アルゴリズム

基于显着性的视觉检查的异常检测算法

• 发表时间: 2008
• 作者: Y.Washizawa;M.Tanaka;淺海徹哉
• 通讯作者: 淺海徹哉

Tracking Iris Contour with a 3D Eye-Model for Gaze Estimation

• DOI: 10.1007/978-3-540-76386-4_65
• 发表时间: 2007-11
• 作者: Haiyuan Wu;Yosuke Kitagawa;T. Wada;Takekazu Kato;Qian Chen