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溶液中におけるナノ粒子の粒子径・粒子形状測定及び形状分離に関する研究

溶液中纳米颗粒的粒径/颗粒形状测量及形状分离研究

基本信息

批准号：
20760570
负责人：
大槻晶
金额：
$ 1.33万
依托单位：
Waseda University
依托单位国家：
日本
项目类别：
Grant-in-Aid for Young Scientists (B)
财政年份：
2008
资助国家：
日本
起止时间：
2008 至 2011
项目状态：
已结题

来源：
https://kaken.nii.ac.jp/grant/KAKENHI-PROJECT-20760570/
关键词：
電気・磁気デバイス固固分離資源処理誘電体微粒子

项目摘要

半導体電子材料を始めとした微細化が要求される製品を製造する工程においては、(1)素材となる微粒子の粒子径及び粒子形状を正確に把握すること、(2)素材の性能を均質化するために粒子径及び粒子形状を均-化することが必須となってきている。微粒子の解析手法には(A)乾式法(例 : 走査型電子顕微鏡(SEM)、透過型電子顕微鏡(TEM))、(B)湿式法(例 : 動的光散乱法(DLS)、レーザー回折・散乱法)があるが、(A)は溶液中における測定が困難なこと、(B)はレーザー光を用いるため、光透過性のない溶液中及び粒子濃度の高い溶液中の正確な測定が困難なこと、また粒子形状を球形と仮定していることから非球形粒子の正確な測定が困難であることが課題である。また、(2)粒子径・粒子形状を均一化するために、(A)粒子径を揃える分級技術、(B)粒子形状を揃える形状分離技術が研究されているが、(A)は球形粒子を対象としていること、(B)は微粒子の適用例がないことが課題である。研究代表者はこれまで、(1)粒子径測定における(A)、(B)の課題を克服するために、粒子間相互作用力測定装置(lFA)を開発・提案し、溶液中における超微粒子の粒子径測定を実施してきた。測定中は微小な間隔に配置した2枚の電極間に試料粒子を誘電分極によって配列させた後、電極間距離を縮めていく。粒子配列の変化に起因する電極間に働く反発力・吸引力の周期が粒子の配列より飛び出した粒子径に相当すると予想されることから粒子径が測定できる。本年度は、IFAを応用して、溶液中における球形粒子及び非球形粒子の粒子径・粒子形状を測定する際の条件として粒子径・粒子の比誘電率・電界強度等を変化させ、それらが測定結果に与える影響を調査した。非球形粒子に関しては、短軸径が球形粒子の一次粒子径と同等の粒子を用いて、その配列特性に起因する測定結果と電界強度の関係を調査した。

Semiconductor electronic materials are required to be miniaturized in the production of products.(1) The particle diameter and particle shape of fine particles in materials are correctly grasped.(2) The properties of materials are homogenized. The particle diameter and particle shape are homogenized. The analysis method of micro-particles is (A) dry method (Example: scanning electron microscope (SEM), transmission electron microscope (TEM)),(B) wet method (Example: Dynamic Light Scattering Method (DLS), Refractory Scattering Method),(A) Difficulty in Measurement of Light in Solution,(B) Difficulty in Accurate Measurement of Light Transmittance in Solution and in Solution with High Particle Concentration,(C) Difficulty in Accurate Measurement of Non-spherical Particles,(D) Difficulty in Measurement of Light Transmittance in Solution and in Solution with High Particle Concentration (2) Particle diameter and particle shape homogenization;(A) Particle diameter classification;(B) Particle shape classification;(A) Particle shape classification;(B) Particle particle shape classification;(C) Particle size classification;(D) Particle size classification;(E) Particle size classification;(F) Particle size classification;( The research representatives proposed the development of A particle interaction measuring apparatus (lFA) and the implementation of particle diameter measurement of ultrafine particles in solution. In the measurement, the distance between the electrodes is reduced after the sample particles are arranged at a small interval. The cause of particle alignment is the reaction force between electrodes, the period of attraction, the particle alignment, the particle diameter, and the measurement of particle diameter. This year, we investigated the influence of IFA application on particle diameter, particle shape, particle specific inductivity, and electric field strength of spherical particles and nonspherical particles in solution. To investigate the relationship between the primary particle diameter and the electrical boundary strength of spherical particles with different minor axis diameters and the causes of their alignment characteristics.