Response studies on polymeric etched track detectors using some chemical damage parameters

使用一些化学损伤参数对聚合物蚀刻轨道探测器的响应研究

• 批准号: 22560051
• 负责人: YAMAUCHI Tomoya
• 金额: $ 2.75万
• 依托单位: Kobe University
• 依托单位国家: 日本
• 项目类别: Grant-in-Aid for Scientific Research (C)
• 财政年份: 2010
• 资助国家: 日本
• 起止时间: 2010 至 2012
• 项目状态: 已结题
• 来源: https://kaken.nii.ac.jp/grant/KAKENHI-PROJECT-22560051/
• 关键词: 放射線; イオントラック; 固体飛跡検出器; エッチング型飛跡検出器; 高分子飛跡検出器; 潜在飛跡; エッチピット形成閾値; 放射線化学収率; 高分子材料; 照射効果; トラックコア半径; エッチピット; 検出閾値; 高分子; CR-39; PADC; PC; PET

Several etched track detectors of PET, PC, PI and PADC films are exposed to proton and heavy ions, He, C, Ne, Si, Ar, Fe, Kr andXe ions, in the air. The examined region of stopping power was between 10 and 12,000 keV/μm. Chemical damage parameters of damage density, which is the number of loss of considering functional groups per unit length of tracks, radial size of track core, in which the considering chemical groups are lost, and the radiation chemical yields, G values, for each group are evaluated as a function of the stopping power. Latent track will be etchable when the radial track core size is larger than the distance between two adjacent breaking points of polymer chains. Such dominant breaking points are C-O bonds in ether, ester and carbonate ester bonds.

用质子和重离子He、C、Ne、Si、Ar、Fe、Kr和Xe离子辐照了几种腐蚀径迹探测器。研究的阻止功率范围在10-12,000keV/μm之间。损伤密度的化学损伤参数，即每单位长度轨道上考虑的官能团的损失数目，轨道芯的径向尺寸，其中所考虑的化学基团丢失，以及每组的辐射化学产额G值，作为阻止功率的函数被评估。当径向径迹核尺寸大于聚合物链两个相邻断裂点之间的距离时，潜迹线可被刻蚀。这种主要的断点是醚键、酯键和碳酸酯键中的C-O键。

项目成果

高閾値飛跡検出器としてのポリイミド中重イオントラックの研究

聚酰亚胺中重离子径迹作为高阈值径迹探测器的研究

• 发表时间: 2012
• 作者: 海部俊介;金崎真聡;他5名
• 通讯作者: 他5名

Dependence of track core structure on the stopping powers ranging from 10 to 12,000 keV/μm in PET, PC and PADC films

PET、PC 和 PADC 薄膜中轨道核心结构对 10 至 12,000 keV/μm 制动力的依赖性

• 发表时间: 2011
• 作者: Tomoya Yamauchi;et al
• 通讯作者: et al

PADC検出器中 135 MeV/n 炭素イオントラックに沿った化学構造変化

PADC 探测器中碳离子轨迹发生 135 MeV/n 化学结构变化

• 发表时间: 2011
• 作者: 森豊;金崎真聡;前田佑介;山内知也;小田啓二;小平聡;小西輝昭;安田仲宏
• 通讯作者: 安田仲宏

PADC飛跡検出器に及ぼす陽子及び重イオン照射効果(3)

质子和重离子辐照对PADC径迹探测器的影响(3)

• 发表时间: 2010
• 作者: 森豊;金崎真聡;前田佑介;山内知也;小田啓二;小平聡;小西輝昭;安田仲宏
• 通讯作者: 安田仲宏

新しい固体飛跡検出器としてのポリイミド薄膜

聚酰亚胺薄膜作为新型固态径迹探测器

• 发表时间: 2011
• 期刊: 放射線
• 作者: 海部俊介;森豊;金崎真聡;山内知也;小田啓二;小平聡;小西輝昭;安田仲宏
• 通讯作者: 安田仲宏