In-situ Ferromagnetische Resonanz und Magnetometrie an epitaktischen Fe/Halbleitergrenzflächen (A09)
In-situ Ferromagnetische Resonanz und Magnetometrie an epitaktischen Fe/Halbleitergrenzflächen (A09)
外延铁/半导体界面的原位铁磁共振和磁力测量 (A09)
批准号：
5398486
负责人：
金额：
$0.0万
依托单位国家：
德国
项目类别：
Collaborative Research Centres
财政年份：
2003
资助国家：
德国
项目状态：
已结题
起止时间：
2002-12-31 至 2010-12-31
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英文摘要
Mittels der weltweit einzigen in situ UHV ferro/paramagnetischen Resonanz und in-situ SQUID–Magnetometrie Apparatur sollen statische und dynamische magnetische Parameter nach Mikrowellenanregung sowohl von epitaktisch gewachsenen Heusler-artigen Fe3Si Schichten und ferromagnetischen CrSb Monolagen auf verschiedenen Halbleiter Einkristallen (GaAs, ZnSe, InAs) mit Gitterfehlanpassungen im Bereich von 0 -7% als auch von magneto-elektrischen Nanokompositen quantitativ bestimmt werden. Mittels „atomic engineering“ von (Fe/FeSi)N/Fe/Pt Multilagen soll eine senkrechte Magnetisierung in Fe3Si induziert werden.
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