情報通信機器の相互接続部に求められる接触性能要件の解明

1. 電磁界計算プログラムを改良し精度を向上させ、イミュニティ劣化を事前予想するために大規模計算機を用いて、接触不良部の高精細な電磁界分布、さらに既存設備の回路シミュレータを用いて、接触不良を有する相互接続部の接触境界に発生する素子の配置を推定することで、一般的な相互接続部に適用可能な等価回路網を得た。2. 本来は実測によってのみ与えられる回路素子の値を、接触不良部における電流路と接触点の分布を仮定することで理論式から導出可能とした。また、この理論式を基に接触性能の低下した情報システムのイミュニティ劣化のメカニズムを明らかにし、相互接続部に求められる接触性能要件を与えた。3. 相互接続部に接触不良の発生した情報システムから生ずる漏えい信号を測定するためのシステムの改良、及び取得した信号に対して高度な統計処理を用いることにより、計測器のノイズの影響を大幅に軽減した高精度な漏えい信号源のモデル化を可能とした。4. これまでの検討により得られた漏えい信号源モデルを用いて、相互接続部に接触不良の発生した情報システムからの情報漏えい評価を行った。また、漏えい情報の取得性はSNRに依存し大きく変化するため、測定を行う背景雑音によって情報の取得性が大きく変化し、評価の再現性が低下すると予想される。そのため、精度の高い評価を実現するために、背景雑音のプロファイリングを行い、情報機器の利用が想定される様々な環境における背景雑音分散を分類した。そして、測定環境によって観測される背景雑音が変化した際にも、再現性の高い評価結果が得られる雑音の適用手法を明らかにした。

1. 電磁界計算プログラムを改良し精度を向上させ、イミュニティ劣化を事前予想するために大規模計算機を用いて、接触不良部の高精細な電磁界分布、さらに既存設備の回路シミュレータを用いて、接触不良を有する相互接続部の接触境界に発生する素子の配置を推定することで、一般的な相互接続部に適用可能な等価回路網を得た。2. 本来は実測によってのみ与えられる回路素子の値を、接触不良部における電流路と接触点の分布を仮定することで理論式から導出可能とした。また、この理論式を基に接触性能の低下した情報システムのイミュニティ劣化のメカニズムを明らかにし、相互接続部に求められる接触性能要件を与えた。3. 相互接続部に接触不良の発生した情報システムから生ずる漏えい信号を測定するためのシステムの改良、及び取得した信号に対して高度な統計処理を用いることにより、計測器のノイズの影響を大幅に軽減した高精度な漏えい信号源のモデル化を可能とした。4. これまでの検討により得られた漏えい信号源モデルを用いて、相互接続部に接触不良の発生した情報システムからの情報漏えい評価を行った。また、漏えい情報の取得性はSNRに依存し大きく変化するため、測定を行う背景雑音によって情報の取得性が大きく変化し、評価の再現性が低下すると予想される。そのため、精度の高い評価を実現するために、背景雑音のプロファイリングを行い、情報機器の利用が想定される様々な環境における背景雑音分散を分類した。そして、測定環境によって観測される背景雑音が変化した際にも、再現性の高い評価結果が得られる雑音の適用手法を明らかにした。