Study of the ground state of 4f electrons near a quantum critical point by means of "soft x-ray absorption spectroscopy" under pressure

利用压力下“软X射线吸收光谱”研究量子临界点附近4f电子的基态

• 批准号: 22654042
• 负责人: INAMI Toshiya
• 金额: $ 1.86万
• 依托单位: Japan Atomic Energy Agency
• 依托单位国家: 日本
• 项目类别: Grant-in-Aid for Challenging Exploratory Research
• 财政年份: 2010
• 资助国家: 日本
• 起止时间: 2010 至 2011
• 项目状态: 已结题
• 来源: https://kaken.nii.ac.jp/grant/KAKENHI-PROJECT-22654042/
• 关键词: f電子系; 非弾性X線散乱; X線ラマン散乱; 内殻励起スペクトル; 価数転移

X-ray absorption spectroscopy(XAS) at M and N edges is a powerful tool that can detect valency, spatial symmetry and hybridization of 4f electrons. However, this technique is not applicable for measurements under pressure, because of short penetration depth of soft x-rays. X-ray Raman spectroscopy(XRS) is an alternative method to obtain XAS spectra using hard x-rays. We therefore carried out feasibility study of XRS and confirmed that XRS is a potential tool for observing the electronic ground states of f-electrons under pressure. At the same time, however, we found that XRS is not perfectly equivalent to XAS and this result points out that particular care must be taken for the interpretation of XRS data.

M 和 N 边缘的 X 射线吸收光谱 (XAS) 是一种强大的工具，可以检测 4f 电子的化合价、空间对称性和杂化。然而，由于软 X 射线的穿透深度短，该技术不适用于压力下的测量。 X 射线拉曼光谱 (XRS) 是使用硬 X 射线获取 XAS 光谱的另一种方法。因此，我们对XRS进行了可行性研究，并证实XRS是观察压力下f电子电子基态的潜在工具。然而，与此同时，我们发现 XRS 并不完全等同于 XAS，这一结果指出必须特别注意 XRS 数据的解释。

项目成果

X線ラマン散乱法によるEuPd_2Si_2の価数転移の研究

X射线拉曼散射法研究EuPd_2Si_2的价态跃迁

• 发表时间: 2011
• 作者: R. Toda;W. Onoe;M. Kanemoto;T. Kakuda;Y. Tanaka;and Y. Sasaki;山口晃史;稲見俊哉;稲見俊哉
• 通讯作者: 稲見俊哉

X線ラマン散乱法によるEuPd2Si2の価数転移の研究(II)

X射线拉曼散射法研究EuPd2Si2的价态跃迁（二）

• 发表时间: 2012
• 作者: R. Toda;W. Onoe;M. Kanemoto;T. Kakuda;Y. Tanaka;and Y. Sasaki;山口晃史;稲見俊哉
• 通讯作者: 稲見俊哉

X-ray Raman scattering experiment on the valence transition of EuPd2Si2

EuPd2Si2价态跃迁的X射线拉曼散射实验

• 发表时间: 2011
• 作者: R. Toda;W. Onoe;M. Kanemoto;T. Kakuda;Y. Tanaka;and Y. Sasaki;山口晃史;稲見俊哉;稲見俊哉;稲見俊哉
• 通讯作者: 稲見俊哉

X-ray Raman scattering experiment on the valence transition of EuPd_2Si_2

EuPd_2Si_2价态跃迁的X射线拉曼散射实验

• 发表时间: 2011
• 作者: R. Toda;W. Onoe;M. Kanemoto;T. Kakuda;Y. Tanaka;and Y. Sasaki;山口晃史;稲見俊哉;稲見俊哉;稲見俊哉;稲見俊哉
• 通讯作者: 稲見俊哉