Subnanoscale analysis of the ordering of strongly correlated electrons by very-low-temperature aberration-corrected STEM

通过极低温像差校正 STEM 对强相关电子的排序进行亚纳米级分析

• 批准号: 23710115
• 负责人: NAGAI Takuro
• 金额: $ 2.83万
• 依托单位: National Institute for Materials Science
• 依托单位国家: 日本
• 项目类别: Grant-in-Aid for Young Scientists (B)
• 财政年份: 2011
• 资助国家: 日本
• 起止时间: 2011 至 2013
• 项目状态: 已结题
• 来源: https://kaken.nii.ac.jp/grant/KAKENHI-PROJECT-23710115/
• 关键词: 強相関電子; 磁気バブル; 軌道秩序; ビスマス系高温超伝導体; 透過型電顕; 収差補正; 結晶粒界; 積層不整; 走査透過型電子顕微鏡法; 透過型電子顕微鏡; 強相関電子系; ローレンツ顕微鏡法

We performed subnanoscale analysis of crystal structures of strongly correlated electron materials and the ordering of the electrons by transmission electron microscopy (TEM). We found formation of nanoscale magnetic bubbles in the orbital-ordered ferromagnetic insulating phase of perovskite-type manganite La1-xSrxMnO3 (x = 1/8) by Lorentz microscopy. In addition, the structures of grain boundaries and defects were revealed for Bi-based high-Tc superconductor (Bi,Pb)2Sr2Ca2Cu3O10+d (Bi-2223) by analysis of the atomic columns using low-voltage aberration-corrected scanning TEM.

我们用透射电子显微镜（TEM）对强相关电子材料的晶体结构和电子的有序性进行了亚纳米级的分析。利用洛伦兹显微镜研究了钙钛矿型锰氧化物La 1-xSrxMnO 3（x = 1/8）的铁磁绝缘相的磁泡结构.此外，利用低压象差校正扫描电镜对Bi基高温超导体（Bi，Pb）2Sr 2Ca 2Cu 3 O（10 +d）（Bi-2223）的原子柱进行了分析，揭示了晶界和缺陷的结构。

项目成果

Direct observation of atomic columns in a Bi-2223 polycrystal by aberration-corrected STEM using a low accelerating voltage

使用低加速电压通过像差校正 STEM 直接观察 Bi-2223 多晶中的原子柱

• DOI: 10.1016/j.physc.2014.02.020
• 发表时间: 2014
• 期刊: Physica C
• 影响因子: 1.7
• 作者: 長井拓郎;治田充貴;菊地昌志;張偉珠;竹口雅樹;木本浩司
• 通讯作者: 木本浩司

低加速収差補正STEMによるビスマス系高温超伝導体の観察

通过低加速度像差校正 STEM 观测铋基高温超导体

• 发表时间: 2013
• 作者: 田中大介;坂本 雅典;寺西利治;長井拓郎
• 通讯作者: 長井拓郎

ローレンツ電顕法による強磁性ナノワイヤの磁化分布解析

使用洛伦兹电子显微镜分析铁磁纳米线的磁化分布

• 发表时间: 2010
• 作者: Van Ho;Dzung Viet Dao;Susumu Sugiyama;Shinichi Hirai;長井拓郎
• 通讯作者: 長井拓郎

Formation of nanoscale magnetic bubbles in ferromagnetic insulating manganite La7/8Sr1/8MnO3.

铁磁绝缘锰矿 La7/8Sr1/8MnO3 中纳米级磁泡的形成。

• DOI: 10.1063/1.4760266
• 发表时间: 2012
• 期刊: Applied Physics Letters
• 影响因子: 4
• 作者: T. Nagai;M. Nagao;K. Kurashima;T. Asaka;W. Zhang;and K. Kimoto
• 通讯作者: and K. Kimoto

ローレンツ顕微鏡法と電子エネルギー損失分光法による強相関電子系材料の微細構造の観察

使用洛伦兹显微镜和电子能量损失谱观察强相关电子材料的精细结构

• 发表时间: 2011
• 期刊: 日本磁気学会誌まぐね
• 作者: 木本浩司;長井拓郎
• 通讯作者: 長井拓郎