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Development of high-brightness and high-intensity positron diffraction and its application to surface studies

Development of high-brightness and high-intensity positron diffraction and its application to surface studies
高亮度、高强度正电子衍射的发展及其在表面研究中的应用
批准号：
24221007
负责人：
Hyodo Toshio
金额：
$137.86万
依托单位：
High Energy Accelerator Research Organization
依托单位国家：
日本
项目类别：
Grant-in-Aid for Scientific Research (S)
财政年份：
2012
资助国家：
日本
项目状态：
已结题
起止时间：
2012-05-31 至 2017-03-31
来源：
https://kaken.nii.ac.jp/grant/KAKENHI-PROJECT-24221007/
关键词：
陽電子回折高強度低速陽電子ビームTRHEPDLEPD表面構造グラフェン第14族単原子層物質二酸化チタンシリセンゲルマネン電子・陽電子量子ビーム表面・界面表面構造解析物性実験ナノワイヤ構造TEHEPD表面・界面物性粒子線全反射高速陽電子回折低速陽電子回折

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Analysis of atomic configurations of Ge(001)-Pt and TiO2(110) surfaces by using high-brightness reflection high-energy positron diffraction
利用高亮度反射高能正电子衍射分析 Ge(001)-Pt 和 TiO2(110) 表面的原子构型
DOI： --
发表时间： 2013
期刊：
影响因子： --
作者： [I. Mochizuki, H. Ariga, Y. Fukaya, K. Wada, T. Hyodo, K. Asakura, M. Maekawa, and A. Kawasuso]
通讯作者： and A. Kawasuso
全反射高速陽電子回折法「TRHEPD法」の高度化により究極の表面構造解析が可能に
随着全内反射高速正电子衍射法“TRHEPD法”的进步，最终的表面结构分析成为可能
DOI： --
发表时间：
期刊：
影响因子： --
作者： []
通讯作者：
Recent researches with a high-intensity slow-positron beam at KEK-IMSS-SPF
KEK-IMSS-SPF 的高强度慢正电子束最新研究
DOI： --
发表时间： 2013
期刊：
影响因子： --
作者： [K. Wada, I. Mochizuki, T. Hyodo, T. Kosuge, Y. Saito, K. Nigorikawa, T. Shidara, S. Ohsawa, M. Ikeda, A. Shirakawa, K. Furukawa, T. Sanami, K. Michishio, R. H. Suzuki, H. Terabe, S. Iida, Y. Nagashima, Y. Fukaya, M. Maekawa, A. Kawasuso, T. Tachibana, T. ]
通讯作者： T.
erformance Test of a Pulse Stretching System for Materials Science at KEK Slow Positron Facility Ⅱ
KEK 慢正电子装置 Ⅱ 材料科学脉冲展宽系统性能测试
DOI： --
发表时间： 2016
期刊：
影响因子： --
作者： [K. Wada, M. Masaki, I, Mochizuki, M, Kimura, H, Hyodo]
通讯作者： Hyodo
共 145 条
    Determination of the atomic coordinates of the Si(111)7x7 recibstructed surfaface by total-reflection high-energy positron diffraction
    海外基金