A study on X-ray aided non-contact atomic force microscopy (XANAM) in terms of quantum interference

X射线辅助非接触原子力显微镜（XANAM）的量子干涉研究

基本信息

批准号：
25390079
负责人：
Shushi Suzuki
金额：
$ 3.33万
依托单位：
Nagoya University
依托单位国家：
日本
项目类别：
Grant-in-Aid for Scientific Research (C)
财政年份：
2013
资助国家：
日本
起止时间：
2013-04-01 至 2016-03-31
项目状态：
已结题

来源：
https://kaken.nii.ac.jp/grant/KAKENHI-PROJECT-25390079/
关键词：
走査プローブ顕微鏡（SPM）非接触原子間力顕微鏡（NC-AFM）量子ビーム放射光X線表面元素分析力場解析非接触原子間力顕微鏡力成分解析探針-試料間相互作用共有結合内殻電子励起 X線誘起信号元素マッピング走査プローブ顕微鏡 X線誘起量子干渉化学結合 X線吸収

项目摘要

项目成果

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专利数量（0）

表面/界面ナノ元素分析を目指す放射光X線－走査プローブ顕微鏡の開発状況

同步辐射X射线扫描探针显微镜表面/界面纳米元素分析的发展现状

DOI：
发表时间：
2014
期刊：
影响因子：
0
作者：
鈴木秀士;朝倉清高
通讯作者：
朝倉清高

NC-AFMによる放射光X線元素分析の顕微化

使用 NC-AFM 的同步加速器 X 射线元素分析显微镜

DOI：
发表时间：
2014
期刊：
影响因子：
0
作者：
鈴木秀士;向井慎吾;田旺帝;野村昌治;朝倉清高
通讯作者：
朝倉清高

X線支援非接触原子間力顕微鏡(XANAM)によるフォーススペクトル測定とX線誘起成分の解析

使用 X 射线辅助非接触原子力显微镜 (XANAM) 测量和分析 X 射线诱导成分

DOI：
发表时间：
2015
期刊：
影响因子：
0
作者：
鈴木秀士;向井慎吾;田旺帝;野村昌治;朝倉清高
通讯作者：
朝倉清高

XANAMによるAu/SiOx試料表面でのX線誘起現象の1次元顕微分析

使用 XANAM 对 Au/SiOx 样品表面 X 射线诱导现象进行一维显微分析

DOI：
发表时间：
2016
期刊：
影响因子：
0
作者：
鈴木秀士;向井慎吾;田旺帝;野村昌治;朝倉清高
通讯作者：
朝倉清高

Improvement of XANAM with a qPlus sensor for enhancing chemical sensitivity on surface analysis

使用 qPlus 传感器改进 XANAM，以增强表面分析的化学灵敏度

DOI：
发表时间：
2013
期刊：
Proc. 9th International Symposium on Atomic Level Characterizations for New Materials and Devices ’13
影响因子：
0
作者：
S. Suzuki;S. Mukai;Y. Koike;K. Kinoshita;K. Fujikawa;W.J. Chun;M. Nomura;and K. Asakura
通讯作者：
and K. Asakura

DOI：
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作者：
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影响因子：
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作者：
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通讯作者：
Kiyotaka Asakura

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DOI：
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0
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通讯作者：
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发表时间：
1984
期刊：
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影响因子：
2.8
作者：
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通讯作者：
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DOI：
发表时间：
1998
期刊：
影响因子：
0
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通讯作者：
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DOI：
发表时间：
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期刊：
影响因子：
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作者：
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通讯作者：
中嶋克宏，阿部弘哉，大槻幸義