Die Oberflächengröße eisenreicher Sekundärmineralüberzüge auf Schwarzpeliten und ihr potentieller Einfluß auf den Spurenelement-Rückhalt

在地球化学Reaktivität中，地球化学与地球化学中，地球化学与地球化学中，地球化学与地球化学中，地球化学与地球化学中，地球化学与地球化学中。ihoft vergleichsweise großen spezifischen Oberflächen sind die Ursache f<e:1> r Ihre Bedeutung als吸附剂。在dem geplanten project sololgeklärt werden中，在Eisenoxiden ausrezenten和fossilen Verwitterungsbildungen durch和bertrairer spezifischen和fluidzugänglichen Oberfläche gesteuert wurde中，der gehateran和Spurenelementen在Eisenoxiden ausrezenten和化石Verwitterungsbildungen durch和betrirer spezifischen中。下面的材料为志留纪-泥盆纪-白垩世-白垩世。相对于英国的经济状况而言，德国的经济状况不太好。(1)材料的氧化性和金属的可移动性。Die Sekundärmineral-Überzüge auf Schwarzpelitoberflächen sollen d<s:1> nnschliff岩相学与显微分析特征。激光烧蚀- icp - ms激光浓缩亲色剂/亲有机剂移动剂和固定化剂的研究。Schwerpunkt der Untersuchungen lightauder Oberflächenquantifizierung sekundär gebildet Mineralaggregate， insbesondere mit Hilfe konfokaler激光扫描-显微测量和干涉测量-显微测量（wei ß lightinterferometrie）。Damit wind die <s:1> r Fluide leichtzugängliche Gesteinsoberfläche quantifiziert。Diese Oberflächendaten sollen als Randbedingung f<e:1> r eine Bilanzierung der Verlagerung von Spurenelementen verwendet werden。

Eisenoxide sind wichtige Bestandteile in oxidativ verwitterten Gesteinen und in Böden und besitzen eine hohe geochemische Reaktivität. Ihre oft vergleichsweise großen spezifischen Oberflächen sind die Ursache für ihre Bedeutung als Adsorbent. In dem geplanten Projekt soll geklärt werden, ob der Gehalt an Spurenelementen in Eisenoxiden aus rezenten und fossilen Verwitterungsbildungen durch den Betrag ihrer spezifischen und fluidzugänglichen Oberfläche gesteuert wurde. Untersuchungsmaterial sind silurisch-devonische sowie permische Schwarzpelite. Diese besitzen im unverwitterten Zustand relativ hohe Spurenelementgehalte. Bei oxischer Verwitterung werden Eisensulfide in (teilweise sulfatführende) Eisenoxide umgewandelt, organisches Material oxidiert und Spurenelemente mobilisiert. Die Sekundärmineral-Überzüge auf Schwarzpelitoberflächen sollen dünnschliffpetrographisch und mikrosondenanalytisch charakterisiert werden. Mit Laserablation-ICP-MS wird die Konzentration chalkophiler/organophiler mobiler und immobiler Spurenelemente detektiert. Schwerpunkt der Untersuchungen liegt auf der Oberflächenquantifizierung sekundär gebildeter Mineralaggregate, insbesondere mit Hilfe konfokaler Laser-Scanning-Mikroskopie und Interferometrie-Mikroskopie (Weißlichtinterferometrie). Damit wird die für Fluide leichtzugängliche Gesteinsoberfläche quantifiziert. Diese Oberflächendaten sollen als Randbedingung für eine Bilanzierung der Verlagerung von Spurenelementen verwendet werden.