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Systematic study on the radiation damage of silicon semiconductor tracking detectors at operating site

Systematic study on the radiation damage of silicon semiconductor tracking detectors at operating site
硅半导体跟踪探测器作业现场辐射损伤系统研究
批准号:
16K05386
负责人:
kondo takahiko
金额:
$2.91万
依托单位国家:
日本
项目类别:
Grant-in-Aid for Scientific Research (C)
财政年份:
2016
资助国家:
日本
项目状态:
已结题
起止时间:
2016-04-01 至 2019-03-31

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发表时间: 2018
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作者: [近藤敬比古]
通讯作者: 近藤敬比古
Measurements with the ATLAS strip detector (SCT)
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发表时间: 2018
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作者: [近藤敬比古]
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九州大学/大阪大学(日本)
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发表时间:
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作者: []
通讯作者:
15
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