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(Low-Vakuum) Rasterelektronenmikroskop

(Low-Vakuum) Rasterelektronenmikroskop
(低真空)扫描电子显微镜
批准号:
54659035
负责人:
金额:
$0.0万
依托单位:
依托单位国家:
德国
项目类别:
Major Research Instrumentation
财政年份:
2007
资助国家:
德国
项目状态:
未结题
起止时间:
2006-12-31 至 --

项目摘要

项目成果

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英文摘要
"Ein Rasterelektronenmikroskop (REM) ist im Bereich der Materialforschung absolut notwendig, weilnur mit einem solchen o.a. Gerät die Mikrostruktur nachwachsender Rohstoffe wie z.B. Holzstrukturen,Morphologie von Naturfasern, Stärkekornstrukturen oder die Struktur daraus hergestellter Produkte(Papier, Textilien, fraktografische Analyse von Verbundwerkstoffen, Besiedlung von Biopolymeren mitMikroorganismen und Materialabbau, Oberflächenbehandlungen ...) optimal untersucht und damit dieZusammenhänge zwischen Mikrostruktur und den makroskopischen Eigenschaften analysiert underklärt werden können. Da es sich dabei oft um organische, meist hydrophile und oft nicht sehr gutvakuumbeständige Proben handelt, ist ein Elektronenmikroskop, das zusätzlich optional auchBetriebsweisen bei deutlich höheren Drücken zulässt, optimal geeignet."
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