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(Low-Vakuum) Rasterelektronenmikroskop

(Low-Vakuum) Rasterelektronenmikroskop
(低真空)扫描电子显微镜
批准号:
54659035
负责人:
金额:
$0.0万
依托单位:
依托单位国家:
德国
项目类别:
Major Research Instrumentation
财政年份:
2007
资助国家:
德国
项目状态:
未结题
起止时间:
2006-12-31 至 --

项目摘要

项目成果

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中文摘要
翻译
“一个快速眼动显微镜(REM)是一种绝对的材料研究方法,但不包括一个单独的实验。罗斯托夫的微结构和z.B.一样。Holzstrukturen,Morphologie von Naturfasern,Stärkekornstrukturen oder die Struktur daraus hergestellter Produkte(Papier,Textilien,fraktografthe Analyse von Verbandwerkstoffen,Besiedlung von Biopolymeren mitMikroorganismen und Materialabbau,Oberflächenbehandlungen.)最佳untersucht和damit dieZusammenhänge zwischen Mikrostruktur und den makroskopischen Eigenschaften analysiert under klärt韦尔登können. Da es sich dabei often um organische,meist massile und often nicht sehr gutvakuumbeständige Proben handelt,ist ein Elektronenmikroskop,das zusätzlich optional auchBetriebsweisen bei deutlich höheren Drücken zulässt,optimal geegnet. "
英文摘要
"Ein Rasterelektronenmikroskop (REM) ist im Bereich der Materialforschung absolut notwendig, weilnur mit einem solchen o.a. Gerät die Mikrostruktur nachwachsender Rohstoffe wie z.B. Holzstrukturen,Morphologie von Naturfasern, Stärkekornstrukturen oder die Struktur daraus hergestellter Produkte(Papier, Textilien, fraktografische Analyse von Verbundwerkstoffen, Besiedlung von Biopolymeren mitMikroorganismen und Materialabbau, Oberflächenbehandlungen ...) optimal untersucht und damit dieZusammenhänge zwischen Mikrostruktur und den makroskopischen Eigenschaften analysiert underklärt werden können. Da es sich dabei oft um organische, meist hydrophile und oft nicht sehr gutvakuumbeständige Proben handelt, ist ein Elektronenmikroskop, das zusätzlich optional auchBetriebsweisen bei deutlich höheren Drücken zulässt, optimal geeignet."
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