バイポーラデバイスの高信頼化に向けた炭化ケイ素結晶中の積層欠陥挙動に関する研究
バイポーラデバイスの高信頼化に向けた炭化ケイ素結晶中の積層欠陥挙動に関する研究
碳化硅晶体堆垛层错行为研究，提高双极器件的可靠性
批准号：
22J21606
负责人：
DO EUIHYEON
金额：
$1.47万
依托单位：
依托单位国家：
日本
项目类别：
Grant-in-Aid for JSPS Fellows
财政年份：
2022
资助国家：
日本
项目状态：
未结题
起止时间：
2022-04-22 至 2025-03-31
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